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當前位置：深圳市深東金儀器有限公司>>技術(shù)文章>>普通LCR測試儀的使用方法
用LCR測試儀來測量零部件的參數(shù)時，其關(guān)鍵問題在于測量誤差。首先是LCR測試儀本身的內(nèi)部誤差，還存在各種各樣的原因，而與試樣的連接所引起的誤差，就是其中之一。由于LCR測試儀的型號不同，可能的連接方法也會有區(qū)別，在此我們整理一下五種連接方法的各自特點。一般來說，連接方法越麻煩，越能準確地進行測量。
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
半導體元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)測量。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)的損耗角評估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估。
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù),導電率和C-V特性。
液晶材料：液晶單元的介電子常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
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