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          行業(yè)產(chǎn)品

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          [供應(yīng)]NanoCalc-薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)
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          • NanoCalc-薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)
          貨物所在地:
          浙江杭州市
          更新時(shí)間:
          2021-11-27 21:00:07
          有效期:
          2021年11月27日 -- 2022年5月27日
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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250?m的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

          詳細(xì)介紹

          NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)

          薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          • 可分析單層或多層薄膜

          • 分辨率達(dá)0.1nm

          • 適合于在線監(jiān)測(cè)

          操作理論

          zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。

          查找n和k值

          可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量,薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù),用戶也可以自己添加和編輯。

          應(yīng)用

          NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

          NanoCalc系統(tǒng)

          NC-UV-VIS-NIR

          重量:

          250-1100 nm

          厚度:

          10 nm-70 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-UV-VIS

          重量:

          250-850 nm

          厚度:

          10 nm-20 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-VIS-NIR

          重量:

          400-1100 nm

          厚度:

          20nm-100µm (可選1µm-250µm)

          光源:

          鹵燈

           

          NC-VIS

          重量:

          400-850 nm

          厚度:

          50 nm-20μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR

          重量:

          650-1100 nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR-HR

          重量:

          650-1100nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-512-NIR

          重量:

          900-1700 nm

          厚度:

          50 nm-200μm

          光源:

          高亮度鹵燈

           

          NanoCalc規(guī)格

          入射角:

          90°

          層數(shù):

          3層以下

          需要進(jìn)行參考值測(cè)量:

          透明材料:

          傳輸模式:

          粗糙材料:

          測(cè)量速度:

          100ms - 1s

          在線監(jiān)測(cè):

          可以

          公差(高度):

          參考值測(cè)量或準(zhǔn)直(74-UV)

          公差(角度):

          參考值測(cè)量

          微黑子選項(xiàng):

          配顯微鏡

          顯示選項(xiàng):

          配顯微鏡

          定位選項(xiàng):

          6"和12" XYZ 定位臺(tái)

          真空:

          可以

          NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)

          薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          • 可分析單層或多層薄膜

          • 分辨率達(dá)0.1nm

          • 適合于在線監(jiān)測(cè)

          操作理論

          zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。

          查找n和k值

          可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量,薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù),用戶也可以自己添加和編輯。

          應(yīng)用

          NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

          NanoCalc系統(tǒng)

          NC-UV-VIS-NIR

          重量:

          250-1100 nm

          厚度:

          10 nm-70 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-UV-VIS

          重量:

          250-850 nm

          厚度:

          10 nm-20 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-VIS-NIR

          重量:

          400-1100 nm

          厚度:

          20nm-100µm (可選1µm-250µm)

          光源:

          鹵燈

           

          NC-VIS

          重量:

          400-850 nm

          厚度:

          50 nm-20μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR

          重量:

          650-1100 nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR-HR

          重量:

          650-1100nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-512-NIR

          重量:

          900-1700 nm

          厚度:

          50 nm-200μm

          光源:

          高亮度鹵燈

           

          NanoCalc規(guī)格

          入射角:

          90°

          層數(shù):

          3層以下

          需要進(jìn)行參考值測(cè)量:

          透明材料:

          傳輸模式:

          粗糙材料:

          測(cè)量速度:

          100ms - 1s

          在線監(jiān)測(cè):

          可以

          公差(高度):

          參考值測(cè)量或準(zhǔn)直(74-UV)

          公差(角度):

          參考值測(cè)量

          微黑子選項(xiàng):

          配顯微鏡

          顯示選項(xiàng):

          配顯微鏡

          定位選項(xiàng):

          6"和12" XYZ 定位臺(tái)

          真空:

          可以

          NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)

          薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          • 可分析單層或多層薄膜

          • 分辨率達(dá)0.1nm

          • 適合于在線監(jiān)測(cè)

          操作理論

          zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。

          查找n和k值

          可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量,薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù),用戶也可以自己添加和編輯。

          應(yīng)用

          NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

          NanoCalc系統(tǒng)

          NC-UV-VIS-NIR

          重量:

          250-1100 nm

          厚度:

          10 nm-70 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-UV-VIS

          重量:

          250-850 nm

          厚度:

          10 nm-20 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-VIS-NIR

          重量:

          400-1100 nm

          厚度:

          20nm-100µm (可選1µm-250µm)

          光源:

          鹵燈

           

          NC-VIS

          重量:

          400-850 nm

          厚度:

          50 nm-20μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR

          重量:

          650-1100 nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR-HR

          重量:

          650-1100nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-512-NIR

          重量:

          900-1700 nm

          厚度:

          50 nm-200μm

          光源:

          高亮度鹵燈

           

          NanoCalc規(guī)格

          入射角:

          90°

          層數(shù):

          3層以下

          需要進(jìn)行參考值測(cè)量:

          透明材料:

          傳輸模式:

          粗糙材料:

          測(cè)量速度:

          100ms - 1s

          在線監(jiān)測(cè):

          可以

          公差(高度):

          參考值測(cè)量或準(zhǔn)直(74-UV)

          公差(角度):

          參考值測(cè)量

          微黑子選項(xiàng):

          配顯微鏡

          顯示選項(xiàng):

          配顯微鏡

          定位選項(xiàng):

          6"和12" XYZ 定位臺(tái)

          真空:

          可以

          薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測(cè)量系統(tǒng)可以用來(lái)進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測(cè)量,對(duì)單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測(cè)量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

          產(chǎn)品特點(diǎn)

          • 可分析單層或多層薄膜

          • 分辨率達(dá)0.1nm

          • 適合于在線監(jiān)測(cè)

          操作理論

          zui常用的兩種測(cè)量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測(cè)量、橢圓光度法測(cè)量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測(cè)量。

          查找n和k值

          可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測(cè)量,薄膜和基體測(cè)量可以是金屬、電介質(zhì)、無(wú)定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫(kù),用戶也可以自己添加和編輯。

          應(yīng)用

          NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測(cè)量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測(cè)量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

          NanoCalc系統(tǒng)

          NC-UV-VIS-NIR

          重量:

          250-1100 nm

          厚度:

          10 nm-70 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-UV-VIS

          重量:

          250-850 nm

          厚度:

          10 nm-20 m

          光源:

          氘鹵燈

           

          NC-VIS-NIR

          重量:

          400-1100 nm

          厚度:

          20nm-100µm (可選1µm-250µm)

          光源:

          鹵燈

           

          NC-VIS

          重量:

          400-850 nm

          厚度:

          50 nm-20μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR

          重量:

          650-1100 nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-NIR-HR

          重量:

          650-1100nm

          厚度:

          70 nm-70μm

          光源:

          鹵燈

           

          NC-512-NIR

          重量:

          900-1700 nm

          厚度:

          50 nm-200μm

          光源:

          高亮度鹵燈

           

          NanoCalc規(guī)格

          入射角:

          90°

          層數(shù):

          3層以下

          需要進(jìn)行參考值測(cè)量:

          透明材料:

          傳輸模式:

          粗糙材料:

          測(cè)量速度:

          100ms - 1s

          在線監(jiān)測(cè):

          可以

          公差(高度):

          參考值測(cè)量或準(zhǔn)直(74-UV)

          公差(角度):

          參考值測(cè)量

          微黑子選項(xiàng):

          配顯微鏡

          顯示選項(xiàng):

          配顯微鏡

          定位選項(xiàng):

          6"和12" XYZ 定位臺(tái)

          真空:

          可以

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