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詳細(xì)介紹
MI3122 回路阻抗、漏電開(kāi)關(guān)綜合測(cè)試儀
主要特點(diǎn)：
l 回路阻抗/預(yù)期故障電流測(cè)試、線路阻抗/短路電流測(cè)試
l 內(nèi)置保險(xiǎn)參數(shù)用于快速評(píng)價(jià)測(cè)量結(jié)果
l 漏電開(kāi)關(guān)動(dòng)作電流、動(dòng)作時(shí)間測(cè)試
l 相序測(cè)試
l 接觸電壓測(cè)試
l 測(cè)量回路阻抗時(shí)可不觸發(fā)漏電開(kāi)關(guān)
l 預(yù)編程限值，通過(guò)/不通過(guò)（PASS/FAIL）評(píng)價(jià)測(cè)量結(jié)果
l 綠/紅指示提供直觀的測(cè)量結(jié)果評(píng)價(jià)
l 適合CAT IV 裝置驗(yàn)收
l 內(nèi)置磁鐵可將儀器固定在鐵質(zhì)材料上
l 內(nèi)置充電器
l 可存儲(chǔ)1900個(gè)測(cè)量結(jié)果
l USB/RS232通訊接口，與PCSW軟件兼容
l 堅(jiān)固、精巧的儀器外觀設(shè)計(jì)
符合標(biāo)準(zhǔn)：IEC/EN 61557-1、3、6、7、10，IEC/EN 61010-1，IEC/EN 61326
技術(shù)指標(biāo)：
漏電開(kāi)關(guān)測(cè)試
漏電電流：10mA、30mA、100mA、300mA、500mA、1000mA
測(cè)試電流波形：半波和脈沖
RCD漏電開(kāi)關(guān)形式：G型（非延遲型）、S型（延遲型）
測(cè)試電流極性：0°或180°
電壓：50-264V,45-55Hz
接觸電壓（測(cè)試電流:0.5 X IΔN 接觸電壓限值：25V 50V）
| 測(cè)量范圍（V） | 分辨率（V） | 精度 |
| 0.0-19.9 | 0.1 | -0%- +15%讀數(shù)+3位 |
| 20.0-99.9 | 0.1 | -0%- +15%讀數(shù) |
動(dòng)作時(shí)間（1/2、1、2、5倍IΔN）
| 測(cè)量范圍（ms） | 分辨率（ms） | 精度 |
| 0-300 | 1 | 3ms |
動(dòng)作電流
| 測(cè)量范圍（IΔN ） | 分辨率（IΔN ） | 精度（IΔN ） |
| 0.2-1.1 （AC型） | 0.05 | 0.1 |
| 0.2-1.5 （A型 IDN>30mA） | 0.05 | 0.1 |
| 0.2-2.2 （A型 IDN<30mA | 0.05 | 0.1 |
故障回路阻抗 （測(cè)試電流6.5A 10ms，不拆除裝置和保險(xiǎn)）
| 測(cè)量范圍（W） | 分辨率（W） | 精度 |
| 0.00-9.99 | 0.01 | 5%讀數(shù)+5位 |
| 10.0-99.9 | 0.1 | 5%讀數(shù)+5位 |
| 100-999 | 1 | 10%讀數(shù) |
| 1.00k-9.99k | 10 | 10%讀數(shù) |
故障回路阻抗 （不觸發(fā)漏電開(kāi)關(guān)）
| 測(cè)量范圍（W） | 分辨率（W） | 精度 |
| 0.00-9.99 | 0.01 | 5%讀數(shù)+10位 |
| 10.0-99.9 | 0.1 | 5%讀數(shù)+10位 |
| 100-999 | 1 | 10%讀數(shù) |
| 1.00k-9.99k | 10 | 10%讀數(shù) |
線路阻抗（測(cè)試電流6.5A 10ms）
| 測(cè)量范圍（W） | 分辨率（W） | 精度 |
| 0.00-9.99 | 0.01 | 5%讀數(shù)+5位 |
| 10.0-99.9 | 0.1 | 5%讀數(shù)+5位 |
| 100-999 | 1 | 10%讀數(shù) |
| 1.00k-9.99k | 10 | 10%讀數(shù) |
相序測(cè)試
電壓：100V-550V
頻率：14-500Hz
結(jié)果：123或321
電壓頻率測(cè)量
| 測(cè)量范圍 | 分辨率 | 精度 |
| 0-550V | 1V | 2%讀數(shù)+2位 |
| 10.0-499.9 | 0.1Hz | 0.2%讀數(shù)+1位 |
訂購(gòu)信息：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、測(cè)試線1套、充電電池及充電器、使用說(shuō)明書(shū)
選件
A1290軟件
A1198 磁性接觸探頭
A1270 測(cè)試探頭
上海玖縱精密儀器有限公司
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