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          涂層測厚儀

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          • 涂層測厚儀
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          • 型號 Minitest 2100
          • 品牌
          • 廠商性質(zhì) 代理商
          • 所在地 上海市
          在線詢價 收藏產(chǎn)品

          更新時間:2015-11-16 04:49:22瀏覽次數(shù):504

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          產(chǎn)品簡介

          德國EPK公司Minitest 4100-3100-2100-1100測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):
          ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
          ? 有色金屬上的絕緣覆層
          ? 絕緣基體上的有色金屬覆層

          詳細介紹

          上海玖縱精密儀器有限公司

          :曾

          :  

            

          :    2671854859

            

          歡迎新老客戶前來咨詢洽談,我們將竭誠為您提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和滿意的服務(wù)。

           

          涂層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100    
          德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點:
          MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
          所有型號均可配所有探頭;
          可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
          可使用一片或二片標準箔校準。
           
            涂層測厚儀MiniTest1100

          MiniTest功能
          型號
          1100
          2100
          3100
          4100
          MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
          應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
          1
          1
          10
          99
          每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,并可設(shè)寬容度極限值)
          -
          1
          10
          99
          可用各自的日期和時間標識特性的組數(shù)
          -
          1
          500
          500
          數(shù)據(jù)總量
          1
          10000
          10000
          10000
          MINITEST統(tǒng)計計算功能
          讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar
          -
          讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
          -
          -
          組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar
          -
          -
          組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
          -
          -
          存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
          -
          -
          -
          分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值
          -
          -
          顯示并打印測量值、打印的日期和時間
          -
          其他功能
          透過涂層進行校準(CTC)
          -
          在粗糙表面上作平均零校準
          利用計算機進行基礎(chǔ)校準
          補償一個常數(shù)(Offset)
          -
          -
          外設(shè)的讀值傳輸存儲功能
          -
          保護并鎖定校準設(shè)置
          更換電池是存儲數(shù)值
          設(shè)置極限值
          -
          -
          公英制轉(zhuǎn)換
          連續(xù)測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值
          -
          -
          連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
          -
          -
          浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送
          組內(nèi)單值延遲顯示
          -
          連續(xù)測量模式中顯示zui小值

          MiniTest可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
          所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
          F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
          N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
          FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
          探頭
          量程
          低端
          分辨率
          誤差
          zui小曲率
          半徑(凸/凹)
          zui小測量
          區(qū)域直徑
          zui小基
          體厚度
          探頭尺寸


          應(yīng)
           
           
           
           
           
           
           
          F05
          0-500μm
          0.1μm
          ±(1%±0.7μm)
          1/5mm
          3mm
          0.2mm
          φ15x62mm
          F1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          0.5mm
          φ15x62mm
          F1.6/90
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面/6mm
          5mm
          0.5mm
          φ8x8x170mm
          F3
          0-3000μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          0.5mm
          φ15x62mm
          F10
          0-10mm
          5μm
          ±(1%±10μm)
          5/16mm
          20mm
          1mm
          φ25x46mm
          F20
          0-20mm
          10μm
          ±(1%±10μm)
          10/30mm
          40mm
          2mm
          φ40x66mm
          F50
          0-50mm
          10μm
          ±(3%±50μm)
          50/200mm
          300mm
          2mm
          φ45x70mm


           
           
           
          FN1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ15x62mm
          FN1.6P
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面
          30mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ21x89mm
          FN2
          0-2000μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          5mm
          F0.5mm
          N50μm
          φ15x62mm



           
           
           
           
           
           
           
           
           
          N02
          0-200μm
          0.1μm
          ±(1%±0.5μm)
          1/10mm
          2mm
          50μm
          φ16x70mm
          N.08Cr
          0-80μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          2.5mm
          2mm
          100μm
          φ15x62mm
          N1.6
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          1.5/10mm
          2mm
          50μm
          φ15x62mm
          N1.6/90
          0-1600μm
          0.1μm
          ±(1%±1μm)
          平面/10mm
          5mm
          50μm
          φ13x13x170mm
          N10
          0-10mm
          10μm
          ±(1%±25μm)
          25/100mm
          50mm
          50μm
          φ60x50mm
          N20
          0-20mm
          10μm
          ±(1%±50μm)
          25/100mm
          70mm
          50μm
          φ65x75mm
          N100
          0-100mm
          100μm
          ±(1%±0.3mm)
          100mm/平面
          200mm
          50μm
          φ126x155mm
          CN02
          10-200μm
          0.2μm
          ±(1%±1μm)
          平面
          7mm
          無限制
          φ17x80mm
          注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。
          N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
          CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

          MiniTest探頭圖示
          FN1.6
          0~1600μm,φ5mm
          兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          FN1.6P
          0~1600μm,φ30mm
          兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度


           
          F05
          0~500μm,φ3mm
          磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
          量程低端分辨宰很高(0.1μm)

           
          F1.6
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          F3
          0~3000μm,φ5mm
          磁性測頭
          可用于較厚的覆層

           
          F1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          90度磁性測頭
          尤其適合于在管內(nèi)壁測量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          F10
          0~10mm,φ20mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等


           
          F20
          0~20mm,φ40mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等

           
          F50
          0~50mm,φ300mm
          適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

           
          N02
          0~200μm,φ2mm
          非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N0.8Cr
          0~80μm,φ2mm
          適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

           
          N1.6
          0~1600μm,φ2mm
          非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N1.6/90
          0~1600μm,φ5mm
          磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
          尤其適合在管內(nèi)壁測量
          量程低端分辨率很高(0.1μm)

           
          N10
          0~10mm,φ50mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

           
          N20
          0~20mm,φ70mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

           
          N100
          0~100mm,200mm
          非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
           
          CN02
          10~200μm,φ7mm
          用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

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