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致茂 Chroma 19036電氣安規(guī)綜合分析儀

Chroma 19036電氣安規(guī)綜合分析儀主要特色：

五合一安規(guī)掃描分析儀

(交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻、層間短路、直流電阻)

耐壓測試(Hi-pot)

-5kVac/6kVdc

-HSCC高速接觸檢查

絕緣電阻測試(IR)

-zui大5kV

繞線元件脈沖測試(IWT)

-脈沖測試高取樣率(200MHz)

直流電阻測試

-10通道四線直流電阻測試

-Δ型/Y型馬達繞線電阻計算

支援zui大40通道掃描測試

繁中/簡中/英文操作介面

USB波形儲存&畫面擷取功能

圖形化彩色顯示

標準LAN,USB,RS232介面

GFI人體保護電路

Chroma 19036概述：

Chroma 19036為業(yè)界*結合脈沖測試，耐壓、絕緣電阻與直流電阻量測于單機的繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，擁有5kVac/6kVdc高壓輸出、5kV絕緣電阻、6kV層間短路脈沖電壓與四線式直流電阻量測。符合繞線元件測試需求且提供多通道掃描測試，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。

繞線元件的測試項目包含AC/DC耐壓測試、IR絕緣電阻測試、繞線元件脈沖測試(IWT)及直流電

阻(DCR)。將以上各項測試整合于19036繞線元件電氣安規(guī)掃描分析儀，可針對馬達、變壓器、電熱絲、電磁閥等相關繞線產(chǎn)品進行安規(guī)測試，讓繞線元件生產(chǎn)廠商及使用者在品質(zhì)驗證時，不但擁有可靠的測試品質(zhì)，能更有效率為產(chǎn)品品質(zhì)把關。

線圈自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設計不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起，故在電氣安規(guī)測試制程中加入線圈層間短路測試，即可多組繞組一次掃描測試完成，進一步的提升繞線元件品質(zhì)。

19036結合層間短路測試功能，具備6kV脈沖電壓，擁有波形面積比較、波形差面積比較、波形顫動偵測(Flutter)及波形二階微分偵測(Laplacian)等判定，提供線圈自體絕緣不良以及電感量確認之有效的檢測方法。

19036設計四線直流電阻量測接口，包含Drive 與 Sense并符合耐壓規(guī)格，可提供10通道的四線直流電阻量測與溫度補償功能。另可同時搭配16通道掃描盒zui多可達到40通道掃描測試 。

19036提供高速接觸檢查(HSCC)功能，利用直接繞線電阻檢查快速掃描確認多個繞組連接是否正常，解決繞線元件接觸不良而導致測試失敗的問題。

馬達測試標準如UL 1004-1，需求高功率的安規(guī)綜合測試儀。Chroma 19036其具有輸出及量測AC100mA/DC 20mA的能力。對于漏電流較大或大型設備電氣安規(guī)測試的使用者，高功率的耐壓測試與其他安規(guī)測試整合于一臺綜合測試儀，將為產(chǎn)線及品保驗證帶來zui大的效益，500VA的設計也符合IEC/UL對輸出功率的要求。

量測技術

耐壓測試 ? FLASHOVER DETECTION 電氣閃絡偵測 ARC 
19036 與Chroma 其他安規(guī)測試系列儀器同樣具有 Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因 高電界產(chǎn)生電氣放電，待測物失去原有之絕緣特性，形 成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導致碳化導電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品 傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良，須以測試電 壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測 為高壓測試*的檢視項目之一。

脈沖測試 
所謂的『繞線元件脈沖測試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析／比對待測物良品與不良品之 等效波形以達到判定良否之目的。繞線元件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、電暈電弧或甚至是不 易發(fā)覺之部分放電等。 四種判定模式 
1.波形面積比較 (AREA SIZE) 
2.波形差面積比較 (DIFFERENTIAL AREA) 
3.波形顫動偵測 (FLUTTER DETECTION) 
4.波形二階微分偵測 (LAPLACIAN DETECTION), 以二階微分演算，有效偵測出因電氣放電造成之波形不連續(xù)現(xiàn)象。

DCR 直流電阻量測功能

• DCR量測(兩線/四線) 
  Chroma 19036可選擇四線或兩線式直流電阻量測，新型式設計接口提供10通道四線直流電阻測量，對于馬達及變壓器等多繞組樣品提供高準 確度量測，其量測范圍從0.1mΩ ~500kΩ。
• 直流電阻平衡判定 (DCR Balance) 
  三組繞線馬達的直流電阻不平衡時，易導致旋轉(zhuǎn)不平衡，長期使用后會造成品質(zhì)不良。直流電阻平衡功能將繞組的zui大zui小值相減，若超過設定 值范圍即為不良品，是馬達類產(chǎn)品長期可靠度測試的輔助工具。
• 溫度補償功能(Temp Compensation) 
  當量測較小的直流電阻值時，常會遇到溫差所造成的問題。當量測時的溫度不同時，量測的阻值也會不同。因此 19036 加入了溫度補償功能 (Temp Compensation)，經(jīng)由溫度系數(shù)的轉(zhuǎn)換，將直流電阻換算為標準溫度下量測的值，減少溫度差異造成的影響。

接觸檢查功能 
高速接觸檢查 High Speed Contact Check (HSCC) 電氣安規(guī)測試回路若發(fā)生開路，不良品會誤判為良品導致測試失敗 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對治具設備的傷害，高速接觸檢 查功能可快速掃描待測物線路接觸是否正常，此新技術可以讓耐壓測試前的接觸檢查比以往更快速完成， 19036另具有高頻接觸檢查(HFCC) 及開 短路偵測OSC(號254135)等多項接觸檢查功能，可偵測繞組與鐵芯間是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)情形。

次測項功能 SUB?STEP 
部分生產(chǎn)廠商常以并聯(lián)進行耐壓測試以提升生產(chǎn)檢測速度，但并聯(lián)測試時，無法正確設定電 流上下限值，導致不良品流出; 以及不良品需至后測站另加進行測試，增加站數(shù)及成本。 19036系列提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時，經(jīng)由程序的編輯，以不良 (Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時，才會進行次測項測試(單顆)， 即可判斷出不良品為哪一顆待測物，可達到高產(chǎn)速與高檢測品質(zhì)之*化。

人體保護電路 GFI 
Chroma 19036擁有GFI人體保護功能來保護測試人員。在突發(fā)人體感電的情形下，GFI 能夠立 即切斷儀器之電壓輸出，保護操作員不受電氣傷害。GFI 功能以偵測從地端(Earth GND)流回 之電流(Ioperator)與LOW端電流(Idevice)，比較后若大于0.5mA，則會在立即切斷電壓輸出。

產(chǎn)品應用

旋轉(zhuǎn)電機元件：△ / Y馬達、風扇、轉(zhuǎn)子/ 定子 從電動車主馬達、伺服器馬達、揚升馬達與風扇 等所有旋轉(zhuǎn)電機類產(chǎn)品，其制程中會進行脈沖測 試 、耐壓測試及直流阻抗量測等測試來確保產(chǎn) 品品質(zhì)。并參考JB/T 7080國標機械行業(yè)標準執(zhí) 行測試。19036之直流電阻量測上可進行四線式 量測，單端點包含Drive和Sense共10組獨立通道 讓您可以一次掃描測試三顆待測物，提高生產(chǎn)產(chǎn) 能。每個通道可分別設定為高壓輸出/參考端/關 閉。

Y型馬達測試說明，測試項目為:  - HSCC / OSC  - DCR Test  - Impulse Test  - Hi-pot –Sub step test
△與Y型馬達繞組  針對△型與Y型馬達繞組(無中心抽頭式)無法直 接進行直流電阻量測的問題， Chroma 19036 具有馬達繞線電阻計算功能， 經(jīng)計算后得 到R1,R2,R3的數(shù)值。
40通道掃描測試  A190359掃描器提供16個測試通道，每個通道 都可設定為H(高壓輸出)，L(參考點)或是Off(不 設定)。19036與A190359組合可應用于多PIN或 少量多樣型之待測物 以及cell單元式產(chǎn)線，單 站完成所有測試。