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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣 |
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KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀產(chǎn)品概述:
● 高精度.安定性.機(jī)能性適合于FPD基板·晶圓硬盤等的微細(xì)形狀、段差、粗度測定的機(jī)型。
● 是多機(jī)能的全自動微細(xì)形狀測定機(jī),針對用途及樣品尺寸有多種機(jī)型可供選擇。
● ET4000A/ ET4000AK一可實(shí)現(xiàn)2D/3D表面形狀測量。
● ET4000M一高性能的泛用微細(xì)形狀測定機(jī)。
● ET4300一適合12"樣品測量。
臺階儀/膜厚儀ET4000系列產(chǎn)品參數(shù)
KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀產(chǎn)品概述:
最大試片尺寸 | 210×210mm~300×400mm |
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重現(xiàn)性 | 1σ 0.5nm以內(nèi) |
測定范圍 | Z:100um X:100~305mm (Y移動量:150~400mm) |
分解能 | Z:0.1nm X:0.1um |
測定力 | 0.5UN~500UN (0.05mg-50mg) |
臺階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體,光伏/太陽能,光電子,化合物半導(dǎo)體,OLED,生物醫(yī)藥,PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度,臺階儀測量薄膜厚度,臺階高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),劃痕深度,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測量方面。其高精度,高重復(fù)性,自動探索樣品表面
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