產(chǎn)品分類品牌分類
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阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)是什么?
產(chǎn)品概述:
系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量被測(cè)物絕緣各個(gè)頻率下的泄漏電流,利用數(shù)據(jù)模型對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫度下的介損、電阻等參數(shù),由于模型能夠精確補(bǔ)償溫度對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響,因此測(cè)試可在任何溫度下進(jìn)行。絕緣電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)可以用于測(cè)量電路或材料在交流信號(hào)作用下的阻抗特性的高精度電子儀器。也可以測(cè)量直流電壓下的阻抗參數(shù),其基本原理基于交流電路理論,通過(guò)向被測(cè)對(duì)象施加一定頻率和幅值的交流電壓(或直流電壓),測(cè)量由此產(chǎn)生的電流(或電壓)響應(yīng),進(jìn)而計(jì)算得到阻抗值(包括實(shí)部電阻R和虛部電抗X,通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示)。這一過(guò)程利用了歐姆定律及相量分析的方法,能夠揭示被測(cè)對(duì)象在不同頻率下的阻抗特性,對(duì)于分析電路性能、材料導(dǎo)電性及評(píng)估元器件質(zhì)量具有重要意義。對(duì)于直流測(cè)量因?yàn)橄到y(tǒng)內(nèi)置高壓功率放大器,也可輸出直流電壓。進(jìn)行絕緣材料的直流電壓下的電阻參數(shù)。
工作原理:
系統(tǒng)工作原理:工控機(jī)控制FPGA信號(hào)源向高壓功率放大器施加一定頻率和幅值的交流電壓信號(hào)(或直流電壓信號(hào)),高壓功率放大器進(jìn)行放大到測(cè)量所需要的不同頻率的交流或直流電壓,同時(shí)施加在樣品兩端,通過(guò)電壓采集模塊測(cè)量實(shí)際電壓。通過(guò)電流采集模塊測(cè)量實(shí)際流過(guò)的電流。測(cè)量由此產(chǎn)生的電流(或電壓)響應(yīng),進(jìn)而計(jì)算得到阻抗值(包括實(shí)部電阻R和虛部電抗X,通常以復(fù)數(shù)形式Z=R+jX表示),也可以直接輸出電阻或電導(dǎo)參數(shù)。
產(chǎn)品六大優(yōu)勢(shì):
寬頻測(cè)試范圍:支持從低頻到高頻的廣泛頻率范圍測(cè)試,滿足不同應(yīng)用場(chǎng)景需求。
高精度測(cè)量:采用先進(jìn)的測(cè)量技術(shù)和算法,確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。
自動(dòng)掃頻功能:自動(dòng)進(jìn)行多頻點(diǎn)阻抗掃描,提高測(cè)試效率。
實(shí)時(shí)顯示與存儲(chǔ):實(shí)時(shí)顯示測(cè)試曲線,支持?jǐn)?shù)據(jù)保存與導(dǎo)出,便于后續(xù)分析。
多種測(cè)量模式:流控制等多種測(cè)量模式,適應(yīng)不同測(cè)試要求。
用戶界面友好:直觀的操作界面,簡(jiǎn)化操作流程,降低操作難度。
產(chǎn)品參數(shù):
端口:INPUT,OUTPUT,采集,通訊,接地
輸出電壓幅值范圍 :0 ~ 500V(AC\DC),電壓上升速率150V/μs
交流測(cè)試頻率范圍: 1mHz ~ 1KHz
輸出電壓直流偏置: ≤1V
高壓電源內(nèi)部電容:300pF
有效測(cè)量電流范圍:2×10-13 ~ 2×10-3A(交流峰值)
測(cè)試絕緣阻抗范圍:5000 ~ 1015Ω
電流測(cè)量誤差:≤1%
過(guò)流保護(hù)啟動(dòng):交流峰值達(dá)到40mA,5ms
校正:允許現(xiàn)場(chǎng)校正