銅上鍍錫X射線測厚儀XRF-2020：檢測范圍0.3-50um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單

 XRF-2020鍍層厚儀測試范圍   

鍍金：0.03-6um

鍍鈀：0.03-6um

鍍鎳：0.5-30um

鍍錫：0.3-50um

鍍銀：0.1-50um

鍍鉻：0.5-30um

鍍鋅：0.5-30um

鍍鋅鎳合金：0.5-30um

XRF-2000測厚儀韓國MicroPioneer

原產(chǎn)地：韓國

品牌：Micropioneer微先鋒

型號：XRF-2000已升級為XRF-2020

XRF-2000測厚儀韓國MicroPioneer?精度

*層：±5%以內(nèi)

第二層：±8%以內(nèi)

第三層：±15%以內(nèi)

XRF-2000測厚儀韓國MicroPioneer

可測單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等，不限底材。

如單鍍層銅上鍍銀，銅上鍍鎳，銅上鍍鋅，銅上鍍錫，鐵上鍍鎳等

雙鍍層如銅上鍍鎳鍍金，鐵上鍍銅鍍鎳，銅上鍍鎳鍍銀等，不限底材

多鍍層如：ABS上鍍銅鍍鎳鍍鉻，鐵上鍍銅鍍鎳鍍金等，不限底材

合金鍍層如：鐵上鍍鋅鎳等。不限底材

XRF-2000測厚儀韓國MicroPioneer型號：

XRF-2020H型:測量樣品高度不超過12cm

XRF-2020L型:測量樣品高度不超過3cm

XRF-2020PCB型:測量樣品高度不超3cm

XRF-2020測厚儀三款機型均為全自動臺面，自動雷射對焦。

銅上鍍錫X射線測厚儀XRF-2020：檢測范圍0.3-50um
測量精度:±5%,測量時間只需30秒便可準確知道鍍層厚度
全自動臺面,操作非常方便簡單