韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

電鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

X-RAY膜厚儀校正片

測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片又名膜厚儀校準(zhǔn)片

X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時(shí)進(jìn)行的標(biāo)準(zhǔn)化校準(zhǔn)及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標(biāo)準(zhǔn)曲線法

是測量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測量鍍層樣品

以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導(dǎo)體等行業(yè)使用測厚儀來檢測品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。

 
韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀標(biāo)準(zhǔn)片

用于儀程序標(biāo)準(zhǔn)程序設(shè)定及校準(zhǔn)儀器

檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度

如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...

可測單層,雙層,多層,合金鍍層