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當前位置：上海精誠興儀器儀表有限公司>>X光鍍層測厚儀>> 電鍍層測厚儀韓國XRF-2000L膜厚儀
| 參 考 價: | 面議 |
產(chǎn)品型號
品牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所在地上海市
更新時間：2022-03-14 16:43:22瀏覽次數(shù)：958次
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|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
電鍍層測厚儀韓國XRF-2000L膜厚儀
1、測量電鍍層厚度范圍為0.03微米～35微米。
2、可測量鍍種為：鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳及鋅鎳合金等。
3、可滿足單鍍層、雙鍍層、多鍍層、合金鍍層測量，不限底村。
工作方法：
通過CCD鏡頭觀察快速無損測試鍍層膜厚
測量鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鋅鎳,鍍錫...
原理：
X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。
從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來
而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。
熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度
來進行定性和定量分析。
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