韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀檢測范圍及應(yīng)用
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單一鍍層測量 | Au/Ni , Zn/Fe , Cr/Al |
針對zui上層無法量測之元素 | Al/Fe |
zui上層的厚度極薄 | Au小于0.25um |
雙層鍍層測量 | Au/Ni/Cu , Ag/Ni/Cu |
多層測量(zui多5層) | Au/Ni/Cu/Epoxy |
SnXx合金 | SnPb/Cu , SnBi/Cu |
藥水分析 | -- |
單層合金測量 | SnPb/Cu , ZnNi/Cu |
雙層合金測量 | SnPb/Ni/Cu |
多層合金測量(zui多五層) | SnPb/Ni/Cu/Fe |
*層薄及第二層厚測量 | -- |
Au 0.03-4um
Pd 0.03-4um
Ni 0.05-20um
Ni-P 0.05-20um
Sn 0.05-80um
Ag 0.03-20um
Cr 0.05-20um
Zn 0.05-20um
ZnNi 0.05-20um
SnCu 0.05-20um
設(shè)備功能描述
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線非接觸非破壞快速測量膜厚層
各種樣品單層至多層(5層),合金膜層均可測量
定點(diǎn)自動(dòng)定位分析
光徑對準(zhǔn)全自動(dòng)
影像重疊功能
自動(dòng)顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
多重統(tǒng)計(jì)顯示視窗與報(bào)告編輯應(yīng)用2D/3D,任意位置測量控制Y軸全自動(dòng)控制雷射對焦與自動(dòng)定位系統(tǒng)
多種機(jī)型選擇X-ray運(yùn)行待命(睡眠)控制溫控穩(wěn)定延長校準(zhǔn)時(shí)效全進(jìn)口美日系零件價(jià)格優(yōu)勢及快速的服務(wù)時(shí)效
Micro XRF-2000 韓國先鋒鍍層測厚儀系列
測量鍍種為:鍍金、鍍鋅、鍍鈀、鍍鉻、鍍銅、鍍銀、鍍錫、鍍鎳,鍍鋅鎳合金等
兼容Microsoft Windows 操作系統(tǒng)
使用X熒光射線可作非接觸非破壞快速分析膜層
擁有多種濾波器選擇
各種樣品單層至多層(5層),合金膜層與溶液均可測量
定點(diǎn)自動(dòng)定位分析
光徑對準(zhǔn)全自動(dòng)
影像重疊功能
自動(dòng)顯示測量參數(shù)
彩色區(qū)別測量數(shù)據(jù)
全自動(dòng)韓國先鋒XRF-2000X-RAY膜厚儀
檢測電子電鍍,化學(xué)電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,