韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
韓國XRF-2000X射線測厚儀精度
*層:±5%以內(nèi)
第二層:±8%以內(nèi)
第三層:±15%以內(nèi)
韓國XRF-2000X射線測厚儀測試范圍
Au 0.03-6um
Pd 0.03-6um
Ni 0.5-30um
Ni-P 0.5-30um
Sn 0.3-50um
Ag 0.1-50um
Cr 0.5-30um
Zn 0.5-30um
ZnNi 0.5-30um
SnCu 0.5-30um
韓國XRF-2000測厚儀配置
全自動臺面
自動雷射對焦
多點自動測量 (方便操作人員準(zhǔn)確快捷檢測樣品)
測量樣品高度3cm 10cm 15cm 20cm 以內(nèi)四種規(guī)格可選
測量樣品長寬均為55cm
可測試單層,雙層,多層及合金鍍層厚度
每層鍍層都可分開顯示各自厚度.
測量時間:10-30秒
韓國XRF-2000X射線測厚儀精度:顯示小數(shù)點后三位