X射線鍍層測(cè)厚儀XRF-2020功能

功能及用途：

XRF-2020H系統(tǒng)設(shè)計(jì)用于測(cè)量單鍍層或多鍍層元件及合金鍍層的厚度或檢測(cè)分析樣品中的元素：

并使用x射線熒光（XRF）確定其厚度。鍍層厚度的測(cè)量方法可分為標(biāo)準(zhǔn)曲線法和FP法（理論演算方法）底材的熒光X射線2種。標(biāo)準(zhǔn)曲線法是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品：

根據(jù)熒光X射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。

測(cè)試樣品的高度根據(jù)不同型號(hào)10公分以內(nèi)。

XRF-2020膜厚儀型號(hào)規(guī)格

XRF-2020L型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高3cm:臺(tái)面載重3kg

XRF-2020H型:測(cè)量樣品長(zhǎng)寬55cm,高10cm:臺(tái)載重5kg

儀器全自動(dòng)臺(tái)面,自動(dòng)雷射對(duì)焦,多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量

多個(gè)準(zhǔn)直器可選擇：0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.03*0.5mm

可配多個(gè)或單個(gè)準(zhǔn)直器,準(zhǔn)直器大小可自動(dòng)切換

Micropioneer XRF-2020/XRF-2000

原產(chǎn)地：韓國

型號(hào)：XRF-2020系列XRF-2000系列

功能及應(yīng)用:快速無損測(cè)量電鍍層厚度

可測(cè)單鍍層，雙鍍層，多鍍層及合金鍍層

測(cè)量鍍金 鍍銀 鍍鎳 鍍錫 鍍銅 鍍鉻 鍍鋅鎳合金等！

測(cè)量范圍0.02-35um