X射線鍍層測厚儀

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀

X射線鍍層測厚儀,測量電鍍層厚度,如電鍍或化學(xué)鍍金,鍍銀,鍍鎳,鍍鋅,鍍錫,鍍銅,鍍鋅鎳合金等.

XRF2000電鍍鍍層測厚儀/電鍍膜厚測試儀

XRF2000鍍層測厚儀,提供金屬鍍層厚度的測量，同時可對電鍍液進(jìn)行分析，不單性能*,而且價錢*

同比其他牌子相同配置的機(jī)器，XRF2000為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果

甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。超大/開放式的樣品臺

可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等行業(yè)的。

可測量各類金屬層、合金層厚度等。

可測元素范圍：鈦（Ti） – 鈾（U）  原子序 22 – 92
準(zhǔn)直器：固定種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自動種類大小:可選圓形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
電腦系統(tǒng)：液晶顯示器，彩色打印機(jī)
綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析 統(tǒng)計功能

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