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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀主要特點：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品（ 小于 10 mil） 量測值偏低,。 產(chǎn)品型號：所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)相對電容率測試儀工作原理本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù) 產(chǎn)品型號：gdat-a所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：工頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 北廣公司核心技術(shù)由北廣公司嚴(yán)格組建 并有專業(yè)的儀器美工專注外觀設(shè)計 從儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、售后等 *承建企業(yè)體系 。并且研發(fā)更的試驗控制儀器 控制方式*升級 現(xiàn)研發(fā)的微機控制儀器、控制方式采用無線藍(lán)牙*技術(shù) 并且可選用 232 / USB/亞太局域網(wǎng)絡(luò)端口，已是全國* * 產(chǎn)品型號：GDAT-a所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)正切值測試儀 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀： ◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質(zhì)損耗角（tanδ）和介電常數(shù)（ε）變化的測試。 ◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的（tanδ）和（ε）的誤差較小。 ◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調(diào)諧狀態(tài)等。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：1．Q值測量 a．Q值測量范圍：2～1023； b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔； c．標(biāo)稱誤差 頻率范圍25kHz～10MHz100kHz～10MHz 固有誤差≤5％±滿度值的2%≤5％±滿度值的2% 工作誤差≤7％±滿度值的2%≤7％±滿度值的2% 頻率范圍10MHz～60MHz10MHz～160MHz 固 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀裝置： 2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種. 2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm 2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：材料高頻介電常數(shù)測定儀 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種. 2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm 2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF, 2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍：±12.5mm（±4.2pF） 2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm 2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)測試儀/介質(zhì)損耗因數(shù)和電容率測試儀的詳細(xì)描述： 電： / 介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標(biāo)準(zhǔn)：GBT1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法 概述 A型高頻Q表和C型高頻Q表主要區(qū)別 AC 測試頻率范圍25kHz～60MHz100kHz～160MHz 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：固體材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：材料介電常數(shù)測定儀 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)指標(biāo)： 2.1 tanδ和ε性能： 2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。 2.1.2 tanδ和ε測量范圍： tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50 2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2% 工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器 Q值 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀電感器： 按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。 例如：在1MHz測試頻率時，要配250µH電感器，在50MHz測試頻率時，要配0.1µH電感器等。 高頻介質(zhì)樣品（選購件）： 在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中，檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準(zhǔn)是高頻標(biāo)準(zhǔn)介質(zhì)樣品。 該樣品由人工藍(lán)寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：儀器滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法。適用于測定熱塑性、熱固性塑料在1MHz條件下的電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)。 2.高頻電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測試系統(tǒng)構(gòu)成 2.1.概述：高頻電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：五.注意事項： 1．測試裝置使用結(jié)束后，請及時關(guān)閉液晶顯示屏的電源，可延長電池的壽命。如果電池發(fā)出電壓低報警，應(yīng)及時更換電池保證測量的精度。電池更換位置位于液晶顯示屏的被面十字蓋冒下。用工具將十字蓋冒逆時針旋轉(zhuǎn)約45°，既可取下十字蓋冒，更換電池。 2．本測試裝置是由精密機械構(gòu)件組成的測微設(shè)備，所以在使用和保存時要避免振動和碰撞，要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存，用戶不能自行拆裝，否 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：使用方法 高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。 1．測試注意事項 a．本儀器應(yīng)水平安放； b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預(yù)熱30分鐘； c．調(diào)節(jié)主調(diào)電容或主調(diào)電容數(shù)碼開關(guān)時，當(dāng)接近諧振點時請緩調(diào)； d．被測件和測試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短，足夠粗，并應(yīng)接 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的Z佳解決方案。 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。該儀器廣泛地用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠等單位。 A/C高頻Q表是北廣精儀儀器設(shè)備有限公司Z 新研制的產(chǎn)品，它以DDS數(shù)字直接合成方式產(chǎn)生信號源，頻率達(dá) 60MHz/160MHz，信號源具有信號失真小、頻率精確、信號幅 產(chǎn)品型號：GDAT-A所在地：北京 參考價：面議
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北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司主營產(chǎn)品：絕緣強度耐電壓擊穿試驗儀-高壓電橋法介電常數(shù)測試儀-高電壓擊穿強度試驗儀
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