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支撐劑體積密度測試儀滿足標準：根據(jù)國內標準API RP60、Q/SY 124-2007和SY/T 5108-2006壓裂支撐劑性能指標及測試推薦方法及QSY 1...

FT-102B自動金屬粉末流動性測試儀，控制系統(tǒng)自動測試粉末流動時間，以減少傳統(tǒng)的手工堵塞方式帶來的測試誤差和秒表計時誤差，從而讓測試結果更加接近產品本身的實際...

絕緣材料體積電阻率測試儀，測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能...

顆粒休止角測定儀，休止角是指粉體堆積層的自由斜面在靜止的平衡狀態(tài)下，與水平面所形成的Z大角：休止角常用的方法是固定圓錐法（亦稱殘留圓錐法）。固定圓錐法將粉體注入...

FT-6300篩分粒度儀，廣泛應用于實驗室、質檢室等檢驗部門進行顆粒、粉類物料粒度分布測定，產品雜質含量，液體固形物含量的測定分析。產品結構緊湊、噪音低、效率高...

電壓降測試儀，該儀器適用于測量開關觸點、繼電器、開關、線材線束、壓接線端子、連接器等相關產品之壓降測試本儀器有可調的大電流輸出,微電壓測試,數(shù)碼管顯示。也適用于...

FT-340系列雙電測四探針電阻率/方阻測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種...

方塊電阻測試儀操作手冊GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》

雙電測四探針電阻率測試儀，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖...

線束電壓降測試儀，本系統(tǒng)電壓降和接觸電阻是車用電線束插接器在強電流電路和弱電流電路下電性能評定指標；在恒定電流狀態(tài)下，通過測試導線壓接和端子接觸區(qū)域的電壓降，還...

高溫表面和體積電阻率測試儀概述：由測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足絕緣材料在高溫狀態(tài)下，因溫度變化對電阻值變化之表面和體積電阻率測量要...

高溫四探針測試儀現(xiàn)貨，采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過良...

四點探針測試儀，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具

四探針方阻測試儀廠家，配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影...

導體材料高溫電阻率測試儀概述：采用由四端測量方法測試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結合配置的高溫測試探針治具，滿足半導體及導體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過...

高溫四探針電阻率測試儀通過良好的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。

四探針方阻儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆...

四探針法方阻計，按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 155...

四探針電阻率方阻測試儀、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口...

四探針表面電阻測試儀，液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度...