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適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料，在溫度急劇變化環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn)；
試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū)，下部為低溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi)，高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法實(shí)驗(yàn)；試件靜止不動(dòng)，避免了因試件移動(dòng)帶來之諸多不便；
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
高低溫沖擊試驗(yàn)箱
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱，產(chǎn)品特點(diǎn)及用途高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱
l 適用于電工、電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料、軸承、顯示屏等各種材料，在溫度急劇變化環(huán)境下對(duì)產(chǎn)品的破壞性能試驗(yàn)；
l 試驗(yàn)箱上部為高溫區(qū)，下部為低溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部工作室內(nèi)，高溫沖擊時(shí)上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時(shí)，上風(fēng)門關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)，如有需要還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法實(shí)驗(yàn)；試件靜止不動(dòng)，避免了因試件移動(dòng)帶來之諸多不便；
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l 溫度偏移修正，滿足您更為準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)要求；
l 主要零部件采用進(jìn)口件，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性；
l 多重保護(hù)功能，確保試驗(yàn)箱具有*的可靠性。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱 執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn)
l GB-2423.1 低溫試驗(yàn)方法；
l GB-2423.2 高溫試驗(yàn)方法；
l GB-2423.22 溫度沖擊試驗(yàn)；
l GJB150.5 溫度沖擊試驗(yàn)；
l MIL-STD-810F-503.4
高低溫沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫沖擊試驗(yàn)箱 、冷熱沖擊試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱
l 溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
l 溫度偏差：≤±2℃
l 高溫室升溫時(shí)間：RT～200℃ ≤30min
l 低溫室降溫時(shí)間：RT～-60℃ ≤60min
l 溫度恢復(fù) 時(shí) 間：≤5min
l 風(fēng) 門 開 啟：≤5s
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