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Vega雷達液位計測量液體液位時應(yīng)如何選型?
閱讀:1335 發(fā)布時間:2023-1-18對于液面相對平穩(wěn)的罐體,且被測液體的介電常數(shù)較高,可以選擇普通雷達物位計。對于液面波動大、或帶有攪拌的罐體,或被測液體的介電常數(shù)較低,應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達。因為導(dǎo)波管對液面有整型作用,且導(dǎo)波雷達的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。
被測液體的介電常數(shù)和密度變化對測量結(jié)果沒有影響。對于粘度≤500cst且不易產(chǎn)生粘附的介質(zhì),管式探頭是最佳方案,可用于介電常數(shù)大于等于1.4的任何介質(zhì),測量與介質(zhì)的導(dǎo)電性無關(guān),罐內(nèi)障礙物及短管尺寸不影響測量,比桿式探頭能承受的橫向壓力高。
對于高粘度的介質(zhì),被測液體的粘度≥500cst,且液體粘附性較強的情況,不能選擇導(dǎo)波管方式測量,因為粘附和結(jié)晶會堵死導(dǎo)波管,從而形成虛假物位,可以選擇導(dǎo)波桿方式來測量。
介質(zhì)在探頭上的涂污對測量物位的影響可分為兩種:膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時,高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層,由于這種涂污在探頭上涂層均勻,因此對測量基本無影響;但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測量誤差,當塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個波導(dǎo)體之間時,就會在該點測得虛假物位。
由于液面波動和隨機噪聲等因素的影響,檢測信號中必然混有大量噪聲,為了提高檢測的準確度,必須對檢測信號進行處理,盡可能消除噪聲。
對于有泡沫的液位測量:進料飛濺引起的泡沫或介質(zhì)中混雜的泡沫對雷達波的反射沒有影響。
對一些泡沫較少的介質(zhì),選用專用雷達進行測量,在介質(zhì)選項中選介質(zhì)泡沫,可以對有泡沫的液位進行較準確的測量。但劇烈化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)生的大量厚重的泡沫會吸收和散射雷達波,回波質(zhì)量很差。
酒鋼選礦廠二浮選槽液位,由于槽內(nèi)劇烈的化學(xué)反應(yīng)產(chǎn)生大約1m多厚的泡沫,采用包括很多進口品牌高頻型等多種雷達,都不能解決這一問題。
對于帶有蒸汽的液位測量:實際應(yīng)用中常常遇到蒸汽很大的液位測量問題,如酒鋼焦化廠鼓風(fēng)冷凝液槽,安裝后一直很正常,測量也比較準確,但是使用一周多后,開始出現(xiàn)失波現(xiàn)象,檢查不出任何問題,重新安裝又恢復(fù)正常。
這樣反復(fù)多次,都不能解決問題。理論上說蒸汽對雷達不會有任何干擾,這正是它的優(yōu)點。通過分析,認為形成干擾的不是蒸汽,而是凝結(jié)在發(fā)射天線上的冷凝水。改用棒式天線,冷凝水順天線流掉,問題得到解決。增加吹掃裝置也可以解決這一問題。