一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發(fā)源（X射線管）和探測系統(tǒng)構成。X射線管產(chǎn)生入射X射線（一次X射線），激發(fā)被測樣品。受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量。 然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。X射線照在物質上而產(chǎn)生的次級X射線被稱為X射線熒光。利用X射線熒光原理，理論上可以測量元素周期表中鈹以后的每一種元素。在實際應用中，有效的元素測量范圍為9號元素（F）到92號元素（U）。
A.X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經(jīng)過二十多年的探索以后，現(xiàn)在已*成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領域。
B.每個元素的特征X射線的強度除與激發(fā)源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量有關。
C.根據(jù)各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。這就是X射線熒光分析的基本原理。
X射線熒光分析儀的優(yōu)點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。
測試速率高，可以在較少時間內(nèi)進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網(wǎng)輸出。
分析速度較快。
對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。
不需要專業(yè)實驗室與操作人員，不引入其它對環(huán)境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數(shù)法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現(xiàn)誤差。
不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據(jù)，不能區(qū)分元素價態(tài)。
對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣化學分析的基礎上。
標準曲線模型需求不時更新，在儀器發(fā)生變化或標準樣品發(fā)生變化時，標準曲線模型也要變化。
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