塑料制品顆粒的黑點(diǎn)雜質(zhì)成因及其檢測(cè)方法

一、成型前黑點(diǎn)、雜質(zhì)的成因：

1、原料加工時(shí)，由于種種原因，異物不干凈而使原料出現(xiàn)黑點(diǎn)；

2、造粒不純?cè)斐珊邳c(diǎn)；

3、原料混入色母或帶斑點(diǎn)的粉碎料塊、料屑；

4、料不純，低熔點(diǎn)料中混入了高熔點(diǎn)料粒；

5、包裝、運(yùn)輸、貯藏過(guò)程中可能出現(xiàn)雜質(zhì)混入，它明顯特征是原料開(kāi)包后，仔細(xì)觀察，可以看到在料顆粒表面有異物、雜質(zhì)；

6、原料碳化，這種黑點(diǎn)一般體積較大，大的黑點(diǎn)外觀直徑可達(dá)成1--2mm，多數(shù)"黑點(diǎn)"較厚，也有一曾或兩層的較薄。這種情況就是原料長(zhǎng)期積料或局部受高熱，分解、焦化、碳化成塊。在螺桿或是噴嘴等處流動(dòng)受剪切破碎后而形成的。

7、除了5不會(huì)直接對(duì)料斗料造成污染，其他部分均可能在上料過(guò)程式中污染原料，造成制品黑點(diǎn)、雜質(zhì)。污染源包括：空氣中的灰塵、料狀懸浮物、異料料屑、異料料粒、粉狀色母、染色劑等。

8、助劑降、分解變色，助劑包括防靜電劑，紫/紅外線吸收劑和一般的染色劑，其性質(zhì)一般都在比原料活潑，在加工溫度剪切力作用下，原料未分解時(shí)，它們已經(jīng)分解，變成暗色、黃褐色以至黑色，成型時(shí)形成黑點(diǎn)、雜質(zhì)。

二、生產(chǎn)中因外界的原因產(chǎn)生的黑點(diǎn)、雜質(zhì)的成因：

1、模具材質(zhì)不好，分型面或成型面或碰穿面都會(huì)掉鐵粉，造成黑點(diǎn)。

2、頂針粗糙易燒，掉鐵粉，造成黑點(diǎn)。

3、滑塊磨鐵沫粉，造成黑點(diǎn)

4、滑塊里面漏水生銹或其它污漬，銹和污漬被滑塊活動(dòng)飛出，落在制品上會(huì)形成黑點(diǎn)。

三、解決措施：

1、 目視法

根據(jù)SH/T 1541.1《塑料顆粒外觀試驗(yàn)方法》中目前出臺(tái)的關(guān)于目視法評(píng)定方法介紹，主要是通過(guò)目視方法，在1000g內(nèi)挑選出異形、異色、瑕疵的顆粒物并記錄。根據(jù)我們的了解，各公司在實(shí)際施行該標(biāo)準(zhǔn)的過(guò)程中會(huì)有以下問(wèn)題，針對(duì)該類(lèi)問(wèn)題，各家對(duì)標(biāo)準(zhǔn)的方法進(jìn)行一定的調(diào)整。

目視法的缺陷

檢測(cè)量太多

標(biāo)準(zhǔn)中建議挑選1000g粒子在10min內(nèi)目視檢查完畢，實(shí)際操作過(guò)程中，1000g粒子過(guò)多，通常選擇100-500g不等進(jìn)行人工目視抽查作為實(shí)際的結(jié)果。

檢測(cè)精度低

人工目視檢查通常通過(guò)鑷子撥動(dòng)粒子進(jìn)行目視觀察，發(fā)現(xiàn)異常再挑出來(lái)細(xì)看，每次撥動(dòng)和觀察大約3-5秒，人眼短時(shí)間內(nèi)無(wú)法面面俱到，且對(duì)于小于50-100μm的黑點(diǎn)，人眼很難觀察到，低于50的更是看不到。因?yàn)閾軇?dòng)，粒子不會(huì)360°展現(xiàn)在搪瓷盆上，所以快速目視結(jié)果通常有存遺漏。

尺寸計(jì)算難

人工目通常以經(jīng)驗(yàn)簡(jiǎn)單判定尺寸的范圍，實(shí)際大部分瑕疵的尺寸只能肉眼預(yù)估，對(duì)于難以確認(rèn)的規(guī)格才會(huì)使用帶刻度放大鏡輔助判定，費(fèi)時(shí)費(fèi)力，對(duì)于瑕疵點(diǎn)的尺寸分類(lèi)造成困難。

檢測(cè)效率有限

人工測(cè)試受限于人工成本/效率的限制，只能實(shí)現(xiàn)定期的抽檢；完成取樣-檢測(cè)-上傳的流程花費(fèi)較長(zhǎng)，質(zhì)檢的時(shí)效性較差。

2、 儀器法

為解決人工檢測(cè)的局限性，市場(chǎng)上出現(xiàn)了儀器法測(cè)量外觀黑點(diǎn)的儀器設(shè)備，在實(shí)際考察和驗(yàn)證中，我們發(fā)現(xiàn)有很多客戶(hù)測(cè)量結(jié)果和眼睛仔細(xì)分辨的結(jié)果相差甚遠(yuǎn)，甚至可能在0-100微米區(qū)間就有數(shù)十個(gè)的誤差。同時(shí)，粒子經(jīng)過(guò)攝像頭時(shí)有震動(dòng)槽和轉(zhuǎn)盤(pán)式兩種，粒子的陰影是自然消除還是軟件中設(shè)法消除，這都有較大的差異，對(duì)于不透明的粒子、高透明度的粒子來(lái)說(shuō)，差別還會(huì)更大。鑒于此，我們隆重向您介紹SUNPLUS黑點(diǎn)檢測(cè)儀。

SUNPLUS黑點(diǎn)檢測(cè)儀可以根據(jù)樣品不同的形態(tài)（粒子、粉末）、外觀（透明、半透明、不透明）、顏色（無(wú)色、彩色），采用不同照明方式來(lái)解決不同粒子的測(cè)試問(wèn)題。