原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-高溫力學(xué)測量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。實(shí)現(xiàn)了...
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位MEMS加熱電學(xué)測量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納...
原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
TEM原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡...
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺 參考價：面議
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。
電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)原位解決方案 參考價：面議
PicoFemto電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統(tǒng)原位解決方案，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗(yàn)...
電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)原位解決方案 參考價：面議
電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統(tǒng)原位解決方案，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問題。
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng) 參考價：面議
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級別精度的操縱與定位。
SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價：面議
SEM原位解決方案——SEM納米力測量系統(tǒng)將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價：面議
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 360°旋轉(zhuǎn)冷臺、冷阱 溫度范圍:-60°C to +50℃C最大功率:~45W(12V,3....
SEM原位解決方案——納米探針臺 參考價：面議
SEM原位解決方案——納米探針臺產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各...
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時觀察樣品表面形貌的變化
ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價：面議
ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能譜儀...
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價：面議
ZEM15臺式掃描電子顯微鏡速度快，信號采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實(shí)時的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接...
ZEM18臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM18臺式掃描電鏡信號采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細(xì)節(jié)
ZEM20臺式掃描電鏡 參考價：面議
ZEM20臺式掃描電鏡操作簡便，僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調(diào)節(jié)光闌(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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