目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>掃描電子顯微鏡>> ZEM15原位拉伸-掃描電鏡
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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產(chǎn)品描述
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍,加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào),搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、1000N原位拉伸樣品臺,實(shí)現(xiàn)掃描電鏡內(nèi)的原位拉伸/壓縮/彎曲實(shí)驗(yàn)。
△ 載荷范圍:0-1000N
△ 位移分辨率:20nm
△ 加熱模塊:可選
△ 加載功能:拉伸、壓縮、三點(diǎn)彎曲
△ 僅需鼠標(biāo)即可完成所有操作,無須對中光闌等復(fù)雜步驟;亮度/對比度一鍵自適應(yīng),自動/手動聚焦;
△ 抽真空時間小于90秒;標(biāo)配光學(xué)導(dǎo)航,搭配多樣品臺,實(shí)現(xiàn)快速找樣及切換樣品;
△ 信號采集帶寬10M,掃描速度快;視頻模式下實(shí)時觀察樣品,操作流暢,無卡頓;
△ 四分割背散射電子探測器(多種成像模式)、二次電子探測器;BSE+SE 模式(任意比列混合)、集成EDS元素分析功能;
△ 國內(nèi)生產(chǎn)、銷售、售后一體化服務(wù);北京、上海、安徽、廣東常駐工程師并提供設(shè)備演示;
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