目錄:北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司>>澤攸科技電子顯微鏡>>TEM原位解決方案>> 原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)
產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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產(chǎn)品描述
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體樣品桿,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量,并可在電學(xué)測量的同時,動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征,大大地擴(kuò)展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。
透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)配的STM-TEM樣品桿上集成光學(xué)模塊,從而實現(xiàn)在透射電鏡中進(jìn)行原位光電測量或者光譜學(xué)表征研究。
透射電鏡指標(biāo):
△ 兼容電鏡型號及極靴;
△ 可選雙傾版本,雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°(同時受限于極靴間距);
△ 保證透射電鏡原有分辨率。
電學(xué)測量指標(biāo):
△ 包含一個電流電壓測試單元;
△ 電流測量范圍:1 nA-30 mA,9個量程;
△ 電流分辨率:優(yōu)于100 fA;
△ 電壓輸出范圍:普通模式±10 V,高壓模式±150 V;
△ 自動電流-電壓(I-V)測量、電流-時間(I-t)測量,自動保存。
掃描探針操縱指標(biāo):
△ 粗調(diào)范圍:XY方向2.5 mm,Z方向1.5 mm;
△ 細(xì)調(diào)范圍:XY方向18 um,Z方向1.5 um;
△ 細(xì)調(diào)分辨率:XY方向0.4 nm,Z方向0.04 nm。
光纖指標(biāo):
△ 光纖外徑250 um,保證電鏡系統(tǒng)真空指標(biāo);
△ 可選光纖探針、平頭光纖、光纖透鏡;
△ 可選SMA接頭、FC接頭。
△ 采用雙向光纖,可應(yīng)用于CL光譜、光電探測及電致發(fā)光光譜等研究;
△ 光電一體化解決方案,具有高拓展性;
△ 高穩(wěn)定性,保證電鏡原有分辨率;
△ 超低維護(hù)成本:設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn),維護(hù)成本低;
△ 龐大的用戶群:在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶,出口到歐美澳等地。每年,用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動,搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流;
△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò):在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司,其他各地?fù)碛腥舾杉夹g(shù)支持網(wǎng)點,24小時提供技術(shù)支持
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