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半自動(dòng)四探針觸屏測(cè)試儀：四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)量方塊電阻、電阻率、...

半自動(dòng)觸屏四探針測(cè)試儀：四點(diǎn)探針標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法，采用步進(jìn)系統(tǒng)自動(dòng)控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)；測(cè)量方塊電阻、電阻率、...

全自動(dòng)四探針電阻測(cè)試儀，全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)、多...

全自動(dòng)四探針電阻測(cè)量測(cè)試儀，全自動(dòng)化運(yùn)行測(cè)量系統(tǒng)，PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理；參照A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)方法測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率和方塊電阻；可設(shè)定探針壓力值、測(cè)試點(diǎn)數(shù)...

1000KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻...

500KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

300KG自動(dòng)極片平面探頭電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

1000KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,...

500KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

300KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

200KG兩探針自動(dòng)極片電阻測(cè)試儀采用平面探頭，對(duì)被測(cè)樣品施加的壓力來(lái)分析極片整體電阻，自動(dòng)加壓，壓力可設(shè)定；PC軟件界面操作，多種測(cè)量模式下實(shí)現(xiàn)壓強(qiáng)與電阻,電...

液晶屏顯雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.

液晶顯示雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.

四探針自動(dòng)雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.

四探針自動(dòng)雙極板接觸電阻體電阻測(cè)試儀用于雙極板材料本體電阻率和雙極板與炭紙之間的接觸電阻的測(cè)量和分析.

液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文...

液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文...

恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.

恒流低阻雙電四探針測(cè)試儀的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質(zhì)要求測(cè)量的材料.

四探針液晶顯示電阻率測(cè)試儀采用四探針組合雙電測(cè)量方法，液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理。