目錄:深圳華普通用科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀>> ZSX Primus IVX射線熒光光譜儀
| 價格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 手持式/便攜式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣 |
Rigaku ZSX Primus IV是一種管式以上的連續(xù)波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀，可以快速定量測定鈹（Be）到鈾（U）中的主要和次要原子元素，樣本類型 - 以低標(biāo)準(zhǔn)。
ZSX指導(dǎo)為XRF測量和數(shù)據(jù)分析的各個方面提供支持。準(zhǔn)確的分析只能由專家進行嗎？不 - 那是過去。ZSX Guidance軟件具有內(nèi)置的XRF專業(yè)知識和熟練的專家知識，可以處理復(fù)雜的設(shè)置。操作員只需輸入有關(guān)樣品，分析組分和標(biāo)準(zhǔn)組成的基本信息。具有最小重疊，最佳背景和校正參數(shù)（包括線重疊）的測量線可以借助質(zhì)譜自動設(shè)置。
ZSX Primus IV具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護，再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機時間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長了使用時間。ZSX Primus IV WDXRF光譜儀具有的性能和分析最復(fù)雜樣品的靈活性，采用30微米的管子，這是業(yè)界最薄的終端窗口管，可提供出色的輕元素（低Z）檢測限。
結(jié)合*測繪包裝來檢測均勻性和包裹體，ZSX Primus IV可以對樣品進行簡單詳細的XRF光譜測量研究，以提供其他分析方法不易獲得的分析見解。可用的多點分析還有助于消除不均勻材料中的采樣誤差。
EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下對未知樣品進行XRF元素分析。節(jié)省時間功能只需點擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，它可以提供最準(zhǔn)確，最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應(yīng)，包括線重疊。SQX還可以校正光電子（光和超輕元素），不同氣氛，雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
從Be到U的元素分析
ZSX指導(dǎo)專家系統(tǒng)軟件
數(shù)字多通道分析儀（D-MCA）
EZ分析界面進行常規(guī)測量
管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化
占地面積小，使用的實驗室空間有限
微量分析可分析小至500μm的樣品
30μ管提供的輕元素性能
映射功能的元素地形/分布
氦氣密封意味著光學(xué)器件始終處于真空狀態(tài)
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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