數(shù)字式濁度儀   型號(hào)：TR-WGZ-1

● 濁度介紹
　　濁度，即水的混濁程度，由水中含有微量不溶性懸浮物質(zhì)，膠體物質(zhì)所致，ISO標(biāo)準(zhǔn)所用的測(cè)量單位為FTU（濁度單位），F(xiàn)TU與NTU（濁度測(cè)定單位）*。
● 用途
　　可供水廠、電廠、工礦企業(yè)、實(shí)驗(yàn)室及野外實(shí)地對(duì)水樣渾濁度的測(cè)試。
● 主要精度指標(biāo)及測(cè)量范圍
測(cè)量范圍 0.0-20.0NTU (FTU) 20-150 NTU (FTU)
分辨率 0.1與1 NTU
準(zhǔn)確度 5% F.S
工作環(huán)境溫度 0-35℃
電源電壓 220±20V，50HZ或8節(jié)5號(hào)電池
● 儀器外形、結(jié)構(gòu)
1、外殼 2、量程指示燈
3、保險(xiǎn)絲座 4、電源插座
5、交直流拔動(dòng)開關(guān) 6、樣品室蓋
7、數(shù)顯窗 8、調(diào)零手輪
9、量程選擇鍵 10、電源開關(guān)
數(shù)字式濁度儀●儀器工作原理
　　用一定的入射光強(qiáng)透過同一厚度不同濁度的水樣時(shí)，將得到不同的透射光強(qiáng)，其消光值和濁度成正比，儀器通過計(jì)量透射光強(qiáng)，并經(jīng)過電路處理，即得到水樣的濁度值。
●儀器主要特點(diǎn)
水樣杯具有防霧性能：故能在梅雨季節(jié)也能對(duì)水樣進(jìn)行濁度測(cè)定。
交直流兩用，便于攜帶。

產(chǎn)品名稱：高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器 熱輻射儀 黑球溫度計(jì)  產(chǎn)品型號(hào)：TD-1369 中國臺(tái)灣 高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器/熱輻射儀/黑球溫度計(jì) 型號(hào)：TD-1369  產(chǎn)品特點(diǎn)  高溫環(huán)境熱壓力監(jiān)視記錄器TD-1369 應(yīng)用: 礦場(chǎng)：煤礦場(chǎng)、石油礦場(chǎng)、金礦場(chǎng)...等提煉場(chǎng)：石化工業(yè)、鋼廠、鋁廠...等制造場(chǎng)：玻璃廠、造船廠、磚廠、水泥廠...等   主要特性  特點(diǎn):  高溫環(huán)境區(qū)域監(jiān)視記錄器  快速WBGT測(cè)量以評(píng)估環(huán)境產(chǎn)生之熱壓力  風(fēng)速測(cè)量  Z大值、Z小值記錄功能  自動(dòng)、手動(dòng)數(shù)據(jù)記憶功能  讀值鎖定功能  自動(dòng)關(guān)機(jī)功能  規(guī)格:  測(cè)量項(xiàng)目 輻射球、干球、濕球溫度及風(fēng)速   測(cè)量計(jì)算項(xiàng)目 室內(nèi)幅射球濕球(WBGTin)、室外幅射球濕球(WBGTout)、熱指標(biāo)及風(fēng)冷指標(biāo)   溫度測(cè)量 感應(yīng)器:NTC   范圍:-5℃ 至 +100℃ (23℉ 至 212℉)   分辨率:0.1℃/ 0.1℉   準(zhǔn)確度:±0.5℃/ ±0.9℉   風(fēng)速測(cè)量 感應(yīng)器:加熱式白金電阻   范圍:0至20m/s   分辨率:0.1m/s   準(zhǔn)確性：±(4%讀值 + 0.1m/s)   記憶容量 手動(dòng):99組   自動(dòng):65000組   操作條件 -5℃至60℃ (23℉至140℉) , 0%RH至100%RH (未凝結(jié))   電源 一只9V電池或交流電源轉(zhuǎn)換器   電池壽命 約8小時(shí)   尺寸 221(高) × 154(寬) × 53(厚)mm   重量 約1000g   附件 說明書、電池、手提攜帶盒、RS-232纜線、CD軟件、交流電源轉(zhuǎn)換器、10米感應(yīng)器纜線、2"輻射球、6"軸射球

產(chǎn)品名稱：多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀 產(chǎn)品型號(hào)： ST2258C

多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀 型號(hào)： ST2258C

概述

      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。 
      ST2258C型多功能數(shù)字式四探針測(cè)試儀成套組成：由主機(jī)、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)等部分組成。 
主機(jī)主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成。儀器所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸入；具有零位、滿度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類功能，大分類10類。 
      探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。配探頭，也可測(cè)試電池片等箔上涂層電阻率方阻。   
      測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針法測(cè)試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測(cè)試臺(tái)。二探針法測(cè)試電阻率測(cè)試選SZT-K型測(cè)試臺(tái)，也可選配SZT-D型測(cè)試臺(tái)以測(cè)試半導(dǎo)體粉末電阻率，選配SZT-G型測(cè)試臺(tái)測(cè)試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》   
儀器具有測(cè)量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡(jiǎn)便等特點(diǎn)。   
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試。 

 基本技術(shù)參數(shù)

1. 測(cè)量范圍、分辨率（括號(hào)內(nèi)為可向下拓展1個(gè)數(shù)量級(jí)） 
    電    阻：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³  Ω,    分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³  Ω,    分辨率0.1×10-⁶ ～ 0.01×10³ Ω） 
    電 阻 率：10.0×10^-6 ～ 200.0×10³ Ω-cm   分辨率1.0×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω-cm 
               （1.0×10^-6 ～ 20.00×10³ Ω-cm  分辨率0.1×10^-6 ～ 0.01×10³ Ω-cm） 
    方塊電阻：50.0×10^-6 ～ 1.0×10⁶ Ω/□    分辨率5.0×10^-6 ～ 0.5×10³  Ω/□  
               （5.0×10^-6 ～ 100.0×10³ Ω/□  分辨率0.5×10^-6 ～ 0.1×10³  Ω/□）   
2. 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)和測(cè)試方式?jīng)Q定) 
    直    徑： SZT-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
    SZT-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm，手持方式不限. 
     長(zhǎng)(高)度：  測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
     測(cè)量方位:  軸向、徑向均可 
3. 量程劃分及誤差等級(jí) 

4.工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W 
5.外形尺寸： 245mm（長(zhǎng)）×220 mm（寬）×95mm（高）  
   凈   重：≤1.5～2.0kg