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當(dāng)前位置：北京恒遠(yuǎn)安諾科技有限公司>>電氣檢測(cè)儀器>>其他檢測(cè)儀器>> 英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)英國(guó)ABI-BM8400
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地北京市
更新時(shí)間：2024-06-20 20:12:35瀏覽次數(shù)：914次
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產(chǎn)品綜述：
數(shù)字集成電路測(cè)試功能模塊（ABI-6400）
在BM-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.這些通道可提供全面性故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測(cè)試（在線/離線測(cè)試）,集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測(cè),并連同在無(wú)電源供給的情形下使用的VI曲線的測(cè)試功能.
數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊（ABI-6500）
該模塊是ABI-6400模塊的升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測(cè)試的高級(jí)測(cè)試模塊,系統(tǒng)提供信息更全面,更準(zhǔn)確.測(cè)試條件更豐富,仿真測(cè)試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測(cè)輸出的電平也可以自己定義.ATM模塊可以更好的檢測(cè)測(cè)試庫(kù)以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測(cè)試更加方便快捷.
模擬集成電路測(cè)試功能模塊（ABI-2400/2500）
在模擬集成電路測(cè)試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測(cè)試.所有常見的模擬集成電路皆可以測(cè)試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來(lái)作功能測(cè)試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了完整的V-I曲線測(cè)試功能,電路板或集成電路可在無(wú)電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測(cè)試結(jié)果.
綜合型基礎(chǔ)儀表模塊（ABI-6300）
在ABI-6300儀表模塊中,提供了多種高規(guī)格的測(cè)試及量測(cè)用的儀表功能在同一模塊之中.此種設(shè)計(jì)方式,適合用于教育及一般用途的電子量測(cè)使用.其模塊提供了頻率/事件計(jì)數(shù)器,數(shù)字存儲(chǔ)式示波器,信號(hào)產(chǎn)生器,雙信道的數(shù)字電表,固定式電源供應(yīng)器及通用型的I/O接口.且操作者可以利用軟件的自定儀器平臺(tái)功能,來(lái)設(shè)計(jì)客制化的儀器操作接口.
數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊（ABI-1100）
此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測(cè)試時(shí)所必要的電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過(guò)電壓及過(guò)載保護(hù)功能.
主要功能
Digital IC Test 數(shù)字集成電路測(cè)試功能
具64個(gè)量測(cè)通道 （64通道X1組模塊）.八組輸出隔離信號(hào).一組5V /5A的電源輸出.可進(jìn)行集成電路的功能測(cè)試、電壓測(cè)量、接腳連接測(cè)試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測(cè).內(nèi)建邏輯時(shí)序信號(hào)測(cè)量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對(duì)功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對(duì)數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對(duì)功能.
Analogue IC Test 模擬集成電路測(cè)試功能
具有24組測(cè)試通道及外加一組的分離集成電路測(cè)試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫(kù)可測(cè)量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對(duì)模擬集成電路進(jìn)行功能測(cè)、連接狀態(tài)測(cè)試及電壓測(cè)量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對(duì)功能.
Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測(cè)試功能
具128量測(cè)通道（64通道X2個(gè)模塊）.可調(diào)整測(cè)量信號(hào)電壓范圍.針對(duì)數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測(cè)量結(jié)果.
Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測(cè)試功能
具有24量測(cè)通道及外加二組獨(dú)立測(cè)量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測(cè)量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號(hào)輸出.內(nèi)建測(cè)量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.
Matrix V-I 矩陣式V-I測(cè)試功能
具有24組矩陣式的測(cè)量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測(cè)量波形的比對(duì)功能,并以條狀圖的方式來(lái)顯示各通道信號(hào)的差異百分比.
Graphical Test Generator 數(shù)字時(shí)序編輯功能
具有64個(gè)信號(hào)通道可供編輯數(shù)字時(shí)序信號(hào),每個(gè)通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號(hào)、并且儲(chǔ)存之后再進(jìn)行比對(duì).
Floating Digital Multimeter雙通道萬(wàn)用電表功能
具二組自動(dòng)換文件的測(cè)量通道,可測(cè)量DC及AC電壓信號(hào)達(dá)400V,可測(cè)量DC及AC電流信號(hào)可達(dá)2A.阻抗測(cè)量可達(dá)20M歐姆,各信道具有統(tǒng)計(jì)功能,可顯示zui大值、zui小值及平均值.另外提供一組計(jì)算器,可針對(duì)所測(cè)量到的數(shù)值進(jìn)行實(shí)時(shí)的計(jì)算并記錄.
Universal I/O 通用型輸出/輸入通道功能
具有四組模擬信號(hào)通道及四組數(shù)字信號(hào)通道.模擬信號(hào)通道可設(shè)定成為電壓輸出、電壓量測(cè)、電流輸出及電流測(cè)量四種工作模式.其電壓范圍為-9V to +9V,而電流范圍可達(dá)20mA.數(shù)字信號(hào)通道可設(shè)定為輸出邏輯HIGH、邏輯LOW或是偵測(cè)目前通道的信號(hào)邏輯狀態(tài),其輸出及輸入能力是以TTL位準(zhǔn)為標(biāo)準(zhǔn).
Short Locator 短路電阻測(cè)量功能
具有三段低電阻測(cè)量范圍,可以圖示及聲音來(lái)判斷目前短路的位置.
Auxiliary Power Supply 固定型電源輸出功能
具三組固定式的電源輸出,分別為:5V/0.5A輸出,+9V/ 100mA輸出及-9V/100mA輸出.各信道都具有電流值監(jiān)測(cè)功能.
Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能
邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過(guò)電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.
模塊介紹
英國(guó)ABI-6400/ABI-6500數(shù)字集成電路測(cè)試模塊（ABI-6400和ABI-6500任選其一）
英國(guó)ABI-6400數(shù)字集成電路測(cè)試模塊
英國(guó)ABI-6500數(shù)字集成電路測(cè)試模塊
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試（可測(cè)模擬器件）
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
短路追蹤測(cè)試（低電阻測(cè)試）
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測(cè)試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電
測(cè)試準(zhǔn)確-源自*的測(cè)試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管腳電壓測(cè)試等.
圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成,方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒有的元件庫(kù).
整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單,通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫(kù),快速批量檢測(cè)電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測(cè)試信息.
V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測(cè)試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障.方便找出不穩(wěn)定器件.
系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充,直至256通道.6500可以擴(kuò)充到2048路.
產(chǎn)品特征:
中英文測(cè)試軟件,USB接口.
數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
模擬測(cè)試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
1路v-i探棒測(cè)試隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬(wàn)種元器件,可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù),可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件.離線測(cè)試和在線測(cè)試功能**.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試.
讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格：
| 數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格 | |
| 測(cè)試通道數(shù): | 64通道可擴(kuò)展到256通道/6500可擴(kuò)充2048通道 |
| 總線隔離信號(hào)通道數(shù): | 4通道or 8通道 |
| 實(shí)時(shí)比對(duì)功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電壓 | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路（內(nèi)定或由程序設(shè)定） |
| 驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)（tri-state） |
| 過(guò)電壓保護(hù)范圍: | <0.5V,>5.5V |
| zui長(zhǎng)測(cè)試時(shí)間: | 根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
| 測(cè)試方式: | 在線及離線測(cè)試（需外接離線測(cè)試盒） |
| 測(cè)試功能及參數(shù) | 參數(shù)主要區(qū)別 |
| 集成電路功能測(cè)試 | 根據(jù)元件原理和真值表進(jìn)行功能測(cè)試 |
| 元器件連接特性測(cè)試 | 短路狀態(tài)偵測(cè) |
| 懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測(cè) | |
| 開路狀態(tài)偵測(cè) | |
| 連接狀態(tài)偵測(cè):6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍（-10~+10v）,模擬仿真測(cè)試范圍更加廣泛. | |
| 電壓測(cè)量 | zui小解析10mV范圍+/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測(cè) | |
| VI曲線測(cè)試: | 測(cè)試通道數(shù)64 256（擴(kuò)展） |
| 電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V（可自行設(shè)定）,可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 | |
| zui大測(cè)試電流 1mA | |
| 曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有助 |
電源供給規(guī)格參數(shù)：
| 自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| （2x5V@5A固定式for128信道） | |
| 過(guò)電壓保護(hù): | 7V |
| 過(guò)電流保護(hù): | 7A |
| 測(cè)試模式 | |
| 單次（Single）: | 單次測(cè)試 |
| 循環(huán)（Loop）: | 反復(fù)測(cè)試,或條件式循環(huán)測(cè)試（PASS或FAIL） |
| 自動(dòng)掃描測(cè)試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
| zui小調(diào)整解析: | 100mV |
| 低信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn): | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
英國(guó)ABI-6400與ABI-6500參數(shù)主要區(qū)別:
| 6400 | 6500 | |
| 測(cè)試范圍 | 5V數(shù)字IC | 多種電源數(shù)字IC |
| 后置驅(qū)動(dòng)能力 | 400mA （MAX） | 600mA （MAX） |
| 隔離信號(hào)通道 | 4組信號(hào) | 8組信號(hào)（支持較大驅(qū)動(dòng)電流） |
| 測(cè)量電壓范圍 | +10V~ -10V | +20V~ -20V |
英國(guó)ABI-2400/ABI-2500模擬集成電路測(cè)試模塊
特點(diǎn):
含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測(cè)量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率（Av）
晶體管測(cè)試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
特點(diǎn):
適合模擬及數(shù)字集成電路的測(cè)試.
可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析.
具有24路測(cè)試通道.
安全性高的無(wú)電源測(cè)量方式.
矩陣式V-I曲線測(cè)試,可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試.
在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí),可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線.
可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試.
具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中zui多的信號(hào)頻率文件位,對(duì)于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測(cè)試電感及高頻電容器件.
本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試,以防止量測(cè)信號(hào)失真.
可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫.
可由軟件加入圖片,用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板樣式.
可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來(lái)節(jié)省所占的空間.
測(cè)試參數(shù)：
| 測(cè)量通道: | 24測(cè)試通道 |
| 探筆通道: | 2通道實(shí)時(shí)對(duì)比測(cè)試 |
| 信號(hào)通道: | 2通道同步脈沖信號(hào) |
| 測(cè)試電壓范圍: | 2 V to 50 V peak to peak:2/4/6/8/10/20/30/40/50V |
| 電壓分辨率: | 8 to 12 bits |
| 測(cè)試頻率范圍: | 37.5 Hz to 12 kHz:37.5/60/75/94/120/150/187.5/240/300/375/480/600 |
| 信號(hào)電流范圍: | 1 μA to 150 mA |
| 測(cè)試阻抗范圍: | 100Ω to 1MΩ：100Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
| 測(cè)試信號(hào)波形: | 正弦波、三角波、斜波 |
| 顯示圖形模式: | V-I,V-T,I-T |
| 矩陣測(cè)試: | 各個(gè)管腳間的VI曲線測(cè)試 |
| 波形自動(dòng)對(duì)比: | 可利用實(shí)時(shí)量測(cè)雙通道來(lái)自動(dòng)實(shí)時(shí)對(duì)比好壞組件的波形,或?qū)⒉ㄐ芜M(jìn)行存儲(chǔ)后,再進(jìn)行比對(duì). |
| 同步脈沖輸出: | 正向（Positive）,負(fù)向（negative）或雙向（bipolar）波形 |
| 同步信號(hào)振幅: | 可調(diào)式由+10V～ -10V |
功能強(qiáng)大的2500
含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
可測(cè)量輸入電壓:±24V
輸入阻抗:大于1MΩ
IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率（Av）
晶體管測(cè)試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.
6300多功能儀表模塊
1.數(shù)字存儲(chǔ)示波器
| 數(shù)字儲(chǔ)存式示波器 | 水平軸規(guī)格 | |||
| 帶寬: | > 100MHz | 掃描頻率: | 5ns/div～5s/div | |
| 采樣率: | 50MS/s （5GS/s ERS 模式） | 存儲(chǔ)深度: | 各通道為64kbytes | |
| 通道數(shù): | 2通道+外部觸發(fā)通道 | 觸發(fā)模式: | 一般,自動(dòng),單一 | |
| 耦合模式: | AC,DC,GND | 內(nèi)部觸發(fā)規(guī)格: | ||
| 輸入阻抗: | 1M Ω,25pF | 觸發(fā)信號(hào)來(lái)源 | 通道一,通道二及信號(hào)發(fā)生器（MIS3） | |
| 電壓靈敏度: | 20mV to 2V /div | 觸發(fā)信號(hào)型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | |
| 電壓分辨率: | 8 bits | 靈敏度: | <0.5分格 | |
| zui大輸入電壓: | 100VDC | 信號(hào)濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | |
| 外部觸發(fā)規(guī)格 | 觸發(fā)延遲設(shè)定范圍: | |||
| 輸入阻抗: | 1MΩ, 25pF | 預(yù)觸發(fā): | 0～*掃描周期 | |
| 觸發(fā)信號(hào)型式: | 上升沿觸發(fā),下降沿觸發(fā) | 延時(shí)觸發(fā): | 0～*掃描周期 | |
| 靈敏度: | <10mV | 特殊功能: | 自動(dòng)測(cè)量輸入信號(hào)參數(shù) | |
| 信號(hào)濾波模式: | AC,DC,高頻濾波,低頻濾波 | 自動(dòng)測(cè)量輸入信號(hào)參數(shù) | ||
| zui大輸入電壓: | 100V DC | 信號(hào)波形比對(duì)功能 | ||
2.信號(hào)發(fā)生器
| 信號(hào)發(fā)生器: | |||
| 輸出波形種類: | 正弦波,方波,三角波,單次脈波. | ||
| 輸出頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz, 調(diào)整分辨率:0.1% 滿刻度 | ||
| 信號(hào)周期范圍: | 100ns～10s | ||
| 調(diào)變模式: | 調(diào)幅,調(diào)頻,脈寬調(diào)變（AM,FM,PWM） | ||
| 調(diào)變信號(hào)頻率: | 400Hz 內(nèi)部信號(hào) | ||
| 直流偏壓可調(diào)范圍: | -7.5V～7.5V, 分辨率 50mV | ||
| 分辨率: | 1% | 掃描功能規(guī)格: | |
| 信號(hào)電壓幅度: | 0V～5V, 分辨率: 50mV | 可設(shè)定起始頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz |
| 可變工作周期范圍: | 20%～80% | 可設(shè)定結(jié)束頻率范圍: | 0.1Hz～10MHz |
| 上升 / 下降時(shí)間: | 25ns | 可設(shè)定步階: | 1～1000 |
| 輸出阻抗: | 50Ω | 每步進(jìn)的保持時(shí)間設(shè)定范圍: | 0.1sto9.9s |
3.通用型接口通道
| 道數(shù): | 4 組通道 |
| 模擬通道規(guī)格: | |
| 通道功能模式: | 電壓輸出,電壓輸入,電流輸出,電流輸入 |
| 電壓輸出范圍: | -9V～+9Vm 調(diào)整分辨率10mV |
| 電壓輸入范圍: | -10V～+10V,調(diào)整分辨率10mV |
| 電流輸出范圍: | 0～±20mA,調(diào)整分辨率μA |
| 數(shù)字通道規(guī)格: | |
| 通道功能模式: | 邏輯輸出高電平,邏輯輸出低電平 |
| 電壓電平類型: | TTL 兼容的邏輯信號(hào) |
4.數(shù)字隔離雙通道萬(wàn)用表
| 測(cè)量通道數(shù): | 2 通道 | 通道二功能規(guī)格: | |||
| 輸入阻抗: | 10MΩ | 測(cè)量功能模式:交/直流電壓,交/直流電流,電阻測(cè)量. | |||
| 測(cè)量統(tǒng)計(jì)功能: | zui小/zui大值,平均值 | 電壓測(cè)量范圍: | 0～400V | 直流電流分辨率: | 1mA |
| 通道一功能規(guī)格: | 電流測(cè)量范圍: | 0～2A | 直流電流精度: | ±0.1% | |
| 測(cè)量功能模式: | 交/直流電壓 | 電阻測(cè)量范圍: | 0～20MΩ | 交流電流分辨率: | 1mA |
| 電壓測(cè)量范圍: | 0～400V | 直流電壓分辨率: | 0.01% | 交流電流精度: | ±0.2% |
| 直流電壓分辨率: | 0.005%滿刻度 | 直流電壓精度: | ±0.05% | 電阻測(cè)量分辨率: | 0.01% |
| 交流電壓分辨率: | 0.05% 滿量程 | 交流電壓分辨率: | 0.05% | 電阻測(cè)量精度: | ±0.1% |
| 交流電壓精度: | ±0.1% | 交流電壓精度: | ±0.1% | ||
5.頻率計(jì)/事件計(jì)數(shù)器
| 量測(cè)模式:事件計(jì)數(shù),頻率計(jì)數(shù),脈沖周期 | |
| 通道一規(guī)格: | |
| 通道阻抗: | 50Ω |
| 頻率量測(cè)范圍: | 1MHz～150MHz |
| 靈敏度: | <5mV rms @ 2MHz - 10MHz;<15mV rms @ 10MHz -100MHzw |
| 脈沖響應(yīng): | 50mV,25ns @ 500Hz |
| 輸入zui大電壓范圍: | ±5V |
| 基本精度: | ±0.02%±1count |
| 通道二規(guī)格: | |
| 通道阻抗: | 1MΩ |
| 頻率量測(cè)范圍: | 2Hz～100MHz |
| 靈敏度: | <300mV rms @ 10Hz;<150mVw rms @ 10kHz to 10MHz;<350mV rms @ 33MHz; |
| 輸入zui大電壓范圍: | 200Vrms |
| 基本精度:±0.02% | ±1count |
| 事件計(jì)數(shù)模式規(guī)格 | |
| 通道1計(jì)數(shù)范圍: | 0～9,999,999,999 |
| 外部信號(hào)閘寬zui小: | 20ns |
| 外部信號(hào)閘寬時(shí)間: | 6hours,10ms/10.74s,5μs/84ms,40nszui小分辨率 |
| 測(cè)量統(tǒng)計(jì)功能: | zui低值,zui高值,平均值 |
| 顯示模式: | 頻率,周期,轉(zhuǎn)速事件數(shù),脈寬,閘寬時(shí)間 |
6.電源輸出
| 輸出電壓: | +5V,+9V,-9V |
| 輸出電流: | +5V /500mA |
| +9V /100mA |
1100可調(diào)電源模塊
電源輸出可由軟件控制
可調(diào)式邏輯電壓通道
可調(diào)整2.5V至6V的電壓
zui小電壓（流）調(diào)整解析:0.01V & 0.01A
可調(diào)式正電壓通道
可調(diào)整電壓:0～+24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
可調(diào)式負(fù)電壓通道
可調(diào)整電壓:0～-24V 電流范圍:50mA～1.5A
zui小電壓（流）調(diào)整解析度:0.01V & 0.01A
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