當前位置:馬爾文帕納科>>技術文章>>MP工具箱 | Zetasizer粒徑測試報告解釋
MP工具箱 | Zetasizer粒徑測試報告解釋
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer的粒徑測試報告中的的參數(shù)都有哪些,都代表了什么含義?今天我們一次性給大家解釋清楚。
如下圖所示,Zetasizer的粒徑測試報告的形式分為三個部分:
Sample Detail 樣品細節(jié)
Size Distribution by Intensity 光強分布圖和 Correlogram 相關圖
Statistics Table 測試結果統(tǒng)計表
如上圖,在粒度測試報告Sample Detail區(qū)域中,加粗的參數(shù)含義如下:
Sample Name:樣品名稱
Project Name:項目名稱
Date and Time:測試時間
Type:測試類型
Result Source:結果來源
Cell Name:樣品池名稱
Temperature(℃):測試溫度
Material Name:材料名稱
Dispersant Name:分散劑名稱
Material RI:材料折射率
Dispersant RI:分散劑折射率
Material Absorption: 材料吸收率
Dispersant Viscosity(cP):分散劑粘度
Dispersant Dielectric Contant:分散劑介電常數(shù)
備注:1,需要準確輸入分散劑在測試溫度下的的折射率和粘度值;2,材料的折射率和吸收率一般保持默認,只有在需要看體積分布和數(shù)量分布時,才需要材料本身的光學參數(shù)。該值不影響光強分布和Z-average、PI。
如上圖,在Size Distribution by Intensity 和 Correlogram 的區(qū)域,顯示的兩張圖分別是:
光強分布曲線
光強分布曲線顯示了不同大小顆粒對光強貢獻的百分比,測試時需要輸入分散介質的折射率和粘度值
Correlogram相關圖
相關圖是粒徑測試的原始數(shù)據(jù),也稱為相關方程,反映數(shù)據(jù)質量
如上圖,在Statistics Table區(qū)域,表格中的參數(shù)分別表達:
Z-Average:樣品粒徑的累積距平均值。
Polydispersity Index (PI):多分散指數(shù)。表明樣品的分布寬度,PI值越大,樣品分布越寬
Intercept:相關方程截距。截距與信噪比相關
截距>1,由于灰塵或者大顆粒的數(shù)量波動
典型截距<0.1,樣品可能有熒光
Peak One Mean by Intersity (nm): 峰 1 的光強平均粒徑
Peak One Area by Intersity (nm): 峰 1 的光強百分比
Attenuator:衰減器編號。隨著樣品濃度自動設置 1-11。數(shù)值越小,表明樣品信號越強(對應的樣品濃度越濃)
Mean Count Rate (Kcps):平均計數(shù)率。平均計數(shù)率是經過衰減器衰減之后的計數(shù)率
Derived Mean Count Rate (Kcps):原始計數(shù)率。根據(jù)衰減系數(shù)計算獲得的原始計數(shù)率
除此之外,粒徑測試時,軟件中還會有一些參數(shù)或提示,釋義為:
Cuvette Position:測量位置。Lab測量位置在池中心;Pro/Ultra默認使用背向角測試,可自動調節(jié)測量位置,數(shù)字越小則越靠近池壁,4.64mm為池中心
Cumulants Fit Error:從累積距分析數(shù)據(jù)中獲得的擬合誤差。通過累積量分析獲取Z-Average和PI
<0.005,表明Z average和PI結果可靠
>0.005, 表明Z average和PI結果不可靠,此時有可能分布結果更可信
Distribution Fit Error:從分布分析數(shù)據(jù)中獲得的擬合誤差。通過分布分析獲取光強分布
<0.005,表明光強分布可靠
>0.005,表明光強分布不可靠