用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀

用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。

Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。

SDCOM的特點

• 超快速測量：樣品旋轉一次（即10秒內）即可捕獲所有所需的晶體取向參數(shù)

• 多種樣品尺寸：可測量直徑從1mm到200mm的樣品

• 可對任何單晶材料進行全自動分析和取向測定

• 典型標準偏差 (Si 100)：傾角幅度＜0.01° ，傾角方向＜0.03°

• 正常運行時間：＞99%

• Theta 掃描功能：用于復雜的研究和材料表征

• 轉移技術：實現(xiàn)一束切割光束中至多可處理6個定向好的晶體

• 可與SECS/GEM等MES集成