產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹:
快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是一臺(tái)可以快速做高溫、低溫、高低溫循環(huán)交變?cè)囼?yàn)的箱子,它zui快的速度可以每分種升降溫20℃,當(dāng)然也可以根據(jù)顧客的要求選擇非標(biāo)設(shè)計(jì)定制出符合國(guó)標(biāo)參數(shù)的箱子。非標(biāo)定制升降溫速度可選擇線性或者非線性2℃/min、3℃/min、4℃/min、5℃/min、6℃/min、7℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min至20℃/min范圍內(nèi)可選。尺寸大小可以在廠家提供的6個(gè)標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)選擇,也可以把自己要求的寬、高、深(內(nèi)尺寸)提供給廠家定制。
快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是樣品在人工設(shè)計(jì)*極低的溫度強(qiáng)度極限下,愛(ài)佩廠家運(yùn)用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進(jìn)行循環(huán)交變時(shí),樣品產(chǎn)生交替的膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應(yīng)力,使樣品中產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變,通過(guò)加速溫變應(yīng)力來(lái)使?jié)摯嬗跇悠返蔫Υ酶‖F(xiàn)[潛在樣品零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵],以避免該樣品在使用過(guò)程中,受到環(huán)境應(yīng)力的考驗(yàn)時(shí)而導(dǎo)致失效或者故障,造成不必要的重大損失,對(duì)于提高樣品出貨質(zhì)量與降低故障返修次數(shù)有著明顯的效果,另外快速溫度變化本身是一種制程階段的過(guò)程,而不是一種可靠度試驗(yàn),所以快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是100%對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行的程序測(cè)試的*選擇。。。
主要型號(hào)及技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | AP-KS-80 | AP-KS-150 | AP-KS-225 | AP-KS-408 |
內(nèi)部尺寸 | 40×50×40 | 50×60×50 | 60×50×75 | 60×85×80 |
溫度范圍 | -70℃~100℃(+180℃) | |||
溫濕度解析精度 | 0.1℃/0.01℃ | |||
溫度控制精度 | -70℃~100℃±2℃ | |||
溫度范圍 | -55℃~+80℃全程平均18℃線性平均18℃/min | |||
外部材質(zhì) | 特殊鋼+coationg | |||
內(nèi)部材質(zhì) | SUS#304進(jìn)口片式加熱管 | |||
斷熱材料 | PU發(fā)泡+玻璃棉 | |||
循環(huán)裝置 | 鋁材多翼式風(fēng)輸 | |||
加熱器 | SUS#304進(jìn)口加熱管 | |||
冷凍系統(tǒng) | 風(fēng)冷式歐美*全封閉壓縮機(jī)組,散熱片式蒸發(fā)器 | |||
控制方式 | 平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)(BTHC),PID方式控制+S.S.R | |||
其他配置 | 觀視窗(30*26cm),測(cè)試孔(∮50*1只),試料架(2組),超溫保護(hù)器,視窗口 | |||
安全裝置 | 無(wú)熔絲過(guò)載保護(hù),壓縮機(jī)過(guò)熱、過(guò)流、超壓、加熱干燒,箱內(nèi)超溫警報(bào)系統(tǒng) | |||
電源 | Ac3∮220V/380V±10%,50/60HZ |
符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB/150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB/150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分:低溫試驗(yàn)
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GJB/150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第9部分:濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.22-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)N:溫度變化
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件