執(zhí)行標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》適用標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》
應用領域:大專院校、科研單位、中空玻璃生產、使用單位以及相關檢測單位。
參考價 | ¥14 |
訂貨量 | 1 |
更新時間:2018-04-14 22:58:29瀏覽次數:501
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TCLD-B中空玻璃露點儀(半導體式)產品介紹:
IMLD-B中空玻璃露點儀是根據國家標準GB/T 11944—2012規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。
用于檢測中空玻璃試樣內表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露。
應用領域:大專院校、科研單位、中空玻璃生產、使用單位以及相關檢測單位。執(zhí)行標準:GB/T11944-2012《中空玻璃》關于露點測定部分:IMLD-B中空玻璃露點
TCLD-B中空玻璃露點儀(半導體式)技術參數:
1. 測量探頭工作溫度:-60℃~-40℃
2. 測量探頭直徑:50mm
3. 數顯溫度計測量范圍:-65℃~ +50℃(注:測量范圍可調)
4. 溫度分辨率: 1℃
5. 試件尺寸:510mm×360mm
6. 控制箱尺寸:470mm×550mm×700mm
7. 試驗環(huán)境:溫度:23℃±2℃ 相對濕度:30%~75%RH
8. 試驗時間
原片玻璃厚度/毫米 接觸時間/分鐘
≦4 3
5 4
6 5
8 7
≧10 10
TCLD-B中空玻璃露點儀(半導體式)產品特點:
1. 采用半導體三級制冷的技術,制冷的溫度可以精確設定和控制,制冷速度快,操作十分方便,不僅可以在試驗室內使用,而且可在現場進行檢測,不需要使用容易揮發(fā)的干冰,使用方便且使用成本低廉。
2. 探頭和制冷機組可實現*分離,方便實用且不受試件方向限制。
3. 集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統,實現全過程自動控制,機箱和探頭由軟管連接,檢測時探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
4. 采用pt100溫度探頭,測量精度高,數據準確。
5.溫度值控制采用微機溫控PID調節(jié)技術,控溫精度高,溫度穩(wěn)定性高。