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專用涂鍍層測厚儀YK-OXFORD-243E
YK-OXFORD-243E是一款靈便、易用的儀器，專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應用的理想工具。采用基于相位的電渦流技術。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
涂鍍層測厚儀YK-OXFORD-243E
我公司質(zhì)量承諾：一年保修，終身維護！用專業(yè)精神為您的使用保駕護航！
YK-OXFORD-243E是一款靈便、易用的儀器，專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應用的理想工具。采用基于相位的電渦流技術。
YK-OXFORD-243E手持式測厚儀易于用戶控制，并且可以同X射線熒光測厚儀的準確性和精密性媲美。為了讓客戶能以低成本購買。YK-OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
涂鍍層測厚儀YK-OXFORD-243E功能與特點
測量技術：
一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應，和由于測試件形狀和結構導致的干擾，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術應用到YK-OXFORD-243E,使其達到了±3%以內(nèi)（對比標準片）的準確度和0.3% 以內(nèi)的精確度。
牛津儀器對電渦流技術的*應用，將底材效應zui小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響。
另外，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準
涂鍍層測厚儀YK-OXFORD-243E優(yōu)勢：
1、采用基于相位的電渦流技術，集測量精確、價格合理、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢于一體的手持式測厚儀。
2、專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量，鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。
3、易于用戶控制，并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性媲美。
4、為了讓客戶能以低成本購買OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的需要。
技術參數(shù)
技術參數(shù)及功能：
準確度：相對標準片±3%
精確度：0.3%
分辨率：0.1μm
電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲量：26,500 條存儲讀數(shù)
尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
重量：0.26 kg 包括電池
單位：英制和公制的自動轉換
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于下載至打印機或計算機
顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示
電池：9伏堿性電池，65小時連續(xù)使用
*的ECP-M探頭
ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計，此單探頭可以測量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層，例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探
針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。
測量范圍：
鐵上鍍層 鍍層厚度范圍 探頭
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
zui小凸面半徑 1.143
zui小凹面半徑 1.524
測量高度 101.6
zui小測量直徑 2.286
底材zui小 304.8
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