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當前位置:> 供求商機> XTD-200-國產(chǎn)鍍層測厚儀器
國產(chǎn)鍍層測厚儀器 XTD系列測厚儀,專業(yè)表面處理檢測解決方案:
XTD系列測厚儀,于檢測各種異形件,特別是五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
儀器優(yōu)點:
1. 分析精度高
2. 分析范圍廣
3. 微區(qū)定位準
4. 操作簡單快捷
5. 結(jié)果可靠
6. 領xian行業(yè)標準
XYZ高精密移動裝置:快速定位,手/自動(可選),自動版可實現(xiàn)編程定位多點自動測試。
軟、硬件雙向操作:人性化設計,實現(xiàn)軟件,硬件雙向快捷操作。
變焦+對焦:配備高敏感鏡頭,實現(xiàn)無感對焦,可測各種異形件、超大工件。
國產(chǎn)鍍層測厚儀器性能優(yōu)勢:
1.先進的EFP算法:多層多元素、各種元素及有機物,甚至有同種元素在不同層也可測量。
2.上照式設計:實現(xiàn)可對超大工件進行快、準、穩(wěn)高效率測量。
3.自動對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦。
4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。
5.小面積測量:小測量面積0.04mm²
6.大行程移動平臺:手動XY滑臺100*150mm,自動XY平臺200*200mm.
結(jié)構設計:
國產(chǎn)鍍層測厚儀器一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達到視覺與測試定位一體,且X光擴散度小;與EFP軟件配合達到對焦、變焦雙焦功能,實現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時特征X射線可以穿透測試更厚的表層。
核心EFP算法:
專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎上,計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,結(jié)合先進的光路轉(zhuǎn)換技術、變焦結(jié)構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),只需要少量的標樣來校正儀器因子,可測試重復鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。
儀器型號對比:
國產(chǎn)鍍層測厚儀器就選擇一六儀器,選擇恩陽電子
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