影響到射線檢驗結(jié)果的因素有射線源功率、射線底片的性能(粒度、反差等)、不銹鋼反應(yīng)釜幾何不清晰度和由于穿透被檢物體射線的散射和探測器等其他因素引起的不清晰度，不銹鋼反應(yīng)釜射線照相檢驗的可靠性取決于缺陷的類型。通常，發(fā)現(xiàn)氣孔、央渣和鎢夾雜物型體積缺院是相當容易的。對裂紋、未熔合和未焊透類平面缺陷的顯示與方位有關(guān)，也和開裂程度有關(guān)。只有亦缺陷的平面和射線照射方向相重合的情況下，才能在底片上清晰地看瘋平而缺陷。為了可靠地顯示缺陷，它的開裂不應(yīng)小于，間相應(yīng)渾件的厚度為10-200mm。
     射線照相檢驗的元可懷版的*性是籠在不銹鋼反應(yīng)釜底片、直觀地顯示出缺陷尺寸和形狀。書由形式的檢驗結(jié)果可以長期保存，需要時 記錄缺陷的zui簡單方法是在磁化零件的表面上放上磁粉，磁粉顆粒與磁力線相互作用聚柒在缺陷區(qū)，這汛就可以明顯地看到稍有不均勻的磁場；磁粉法的檢驗過程包括被不銹鋼反應(yīng)釜檢驗零件段的磁化，放置磁粉和目視檢驗。在檢驗之前應(yīng)小心清理零件表而和去除油脂，表面不應(yīng)有尖的凸出部分，金屬滴和光潔度不低于20Pm。零件磁化后用于法或濕法放上磁機然后肉眼觀察磁勒分布情況。在表面和近表面缺陷處磁粉滯留和沉積，顯示出缺陷。
     磁粉法可顯示的缺陷有氣孔、夾渣和分布在近表面或露出表面的裂紋；當裂紋的裂口達5-10Pm、深度20pm、長度達0.5Mm以上時能相當好地顯示出來。表面下的大缺陷，深度小于5mm的也可顯示出來；在磁力法檢驗中，探測缺陷引起磁場梯度變化的探測器可以是磁膜(或帶)和磁傳感器鐵探測器和記錄磁通量變化的其它裝置，不銹鋼反應(yīng)釜渦流檢驗方法的基礎(chǔ)是在零件中激發(fā)渦流并分析零件中的缺陷對渦流探頭和零件組成的系統(tǒng)有關(guān)參數(shù)的影渦流方法餃磁力論復雜，但它的使用范圍更廣泛且便于自動化。
    由于磁力檢驗方法比較簡單而且結(jié)果直觀，因而得到了泛應(yīng)用，檢驗時不要求農(nóng)高水平的專家、設(shè)備操作也倘單；此法可以檢變零件的發(fā)面缺陷，而導致設(shè)備破壞的裂紋往往都是從麥固開始的，不銹鋼反應(yīng)釜磁粉檢驗的基本缺點之一是用內(nèi)服觀察，記錄檢驗結(jié)果帶有主觀性。此外，zui終檢驗結(jié)果只能指示缺陷，不能確定其尺寸，只能間接判斷缺陷的大小。