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- PTG3500 產(chǎn)品型號(hào)
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- 代理商 廠(chǎng)商性質(zhì)
- 杭州市 所在地
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù):1599更新時(shí)間:2024-09-09 09:08:15
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用此*厚度測(cè)量?jī)x,利用其一個(gè)內(nèi)置探頭或我們提供的一個(gè)自動(dòng)探測(cè)的外接探頭,您可以方便的測(cè)量磁性基體(金屬)上非磁性涂層的厚度或非磁性導(dǎo)電基體(非金屬)上非導(dǎo)電涂層的厚度。
菲思圖PTG-3550可被用于很多行業(yè)領(lǐng)域包括制造業(yè),通用機(jī)械工業(yè),商檢等。
PTG-3550涂層測(cè)厚儀可以利用渦流和電磁感應(yīng)兩種不同的方法進(jìn)行厚度測(cè)量。
用此*厚度測(cè)量?jī)x,利用其一個(gè)內(nèi)置探頭或我們提供的一個(gè)自動(dòng)探測(cè)的外接探頭,您可以方便的測(cè)量磁性基體(金屬)上非磁性涂層的厚度或非磁性導(dǎo)電基體(非金屬)上非導(dǎo)電涂層的厚度。
菲思圖PTG-3550可被用于很多行業(yè)領(lǐng)域包括制造業(yè),通用機(jī)械工業(yè),商檢等。
PTG-3550涂層測(cè)厚儀主要技術(shù)信息
測(cè)量范圍:0-1250µ m大
分辨率: 0.1µ m(0-99µ m)或1µ m (大于 100µ m)
精確度: 一點(diǎn)校準(zhǔn)后: +/- 1-3%n 或 2µ m
顯示屏:4位
小測(cè)量范圍: 5mm x 5mm
小曲率半徑: 3mm
凹深:30mm
小基體厚度:金屬: 0.5mm
非金屬: 50 µ m
校準(zhǔn):零點(diǎn)校準(zhǔn)
箔校準(zhǔn)
被測(cè)物體大表面溫度:150℃(長(zhǎng)接觸時(shí)間為2秒)
電源:4節(jié)AA電池
外形尺寸: 161 x 69 x 32mm
重量:260g
PTG-3550涂層測(cè)厚儀使用了一個(gè)內(nèi)置探頭可以自動(dòng)測(cè)量金屬或非金屬基體并且?guī)в?/span>2個(gè)標(biāo)準(zhǔn)基體(鋼,鋁),4個(gè)校準(zhǔn)過(guò)的厚度試片,手提箱,電池和操作手冊(cè)。
無(wú)損涂層測(cè)厚原理
◆1) 電磁感應(yīng)原理:
當(dāng)在金屬-磁性基體如鋼和鐵上測(cè)量涂層的厚度時(shí),菲思圖PTG系列涂層測(cè)厚儀使用此無(wú)損標(biāo)準(zhǔn)。涂層必須是非磁性的,如:油漆,搪瓷釉,鋁,鉻,銅及黃銅。
◆2) 渦流原理:
當(dāng)在非磁性基體如鋁,鋁合金,青銅,銅,黃銅,錫黃銅及不銹弱磁性鋼上測(cè)量涂層的厚度時(shí),菲思圖PTG系列涂層測(cè)厚儀使用此無(wú)損標(biāo)準(zhǔn)。涂層必須是電絕緣的,如:油漆,搪瓷釉,塑料制品,電鍍涂層及陶瓷。
校準(zhǔn)過(guò)程
注意:所有PTG系列涂層測(cè)厚儀都是在發(fā)貨之前用兩點(diǎn)校準(zhǔn)法檢驗(yàn)和校準(zhǔn)的。
.◆1) 一點(diǎn)校準(zhǔn):
此過(guò)程是通過(guò)儀器在無(wú)涂層的試片上的歸零調(diào)整來(lái)實(shí)現(xiàn)的,您將在此試片上進(jìn)行涂層厚度的測(cè)量。為了完成此校準(zhǔn),您需要遵循操作手冊(cè)中的簡(jiǎn)易校準(zhǔn)方法,它不像使用兩點(diǎn)校準(zhǔn)那樣精確。
◆2) 兩點(diǎn)校準(zhǔn):
此過(guò)程是通過(guò)儀器在我們隨機(jī)提供的基體試片(鋼/鋁)上的歸零調(diào)整來(lái)實(shí)現(xiàn)的,然后把其中一個(gè)校準(zhǔn)過(guò)的箔放在基體上并校準(zhǔn)儀器以匹配已知箔的厚度。好使用接近您的被測(cè)試片的實(shí)際已知厚度的箔,這是一個(gè)非常簡(jiǎn)單的過(guò)程,在操作手冊(cè)中已作說(shuō)明。經(jīng)使用兩點(diǎn)校準(zhǔn)法,您可以確保儀器在測(cè)量您的帶有涂層的試片時(shí)是準(zhǔn)確的。在發(fā)貨前,我們使用同樣的方法校準(zhǔn)每臺(tái)儀器。
◆3) 校準(zhǔn)頻率:
一旦PTG系列涂層測(cè)厚儀被校準(zhǔn)后,參數(shù)就會(huì)被保存而且校準(zhǔn)過(guò)程不需重復(fù)進(jìn)行。我們建議在長(zhǎng)時(shí)間操作后或儀器一段時(shí)間不使用的情況下,您應(yīng)該使用與以前校準(zhǔn)儀器同樣的校準(zhǔn)基體/箔。