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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
探測(cè)器光譜測(cè)試系統(tǒng)為自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，具有測(cè)試快速準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、可靠性高度特點(diǎn)，能實(shí)現(xiàn)了200-250nm范圍內(nèi)光譜響應(yīng)度、量子效率、歸一化探測(cè)率、信號(hào)電壓、噪聲電壓、響應(yīng)時(shí)間等參數(shù)隨波長(zhǎng)、頻率、外加偏壓的變化曲線的全自動(dòng)測(cè)試。
詳細(xì)介紹
探測(cè)器光譜測(cè)試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)：
l 光譜范圍：200-2500nm內(nèi)可選
l 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.2nm
l 光譜分辨率：±0.1nm
l光譜帶寬：0.2-10nm可調(diào)
l 光電源電流漂移：<0.04%/h
l 系統(tǒng)重復(fù)性：1%