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所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-03-07 13:12:10瀏覽次數(shù):949次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 化工儀器網(wǎng)激發(fā)方式 | 電弧 | 價(jià)格區(qū)間 | 35萬-40萬 |
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檢測器類 | 雙檢測器(PMT+CCD) | 儀器種類 | 臺(tái)式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 建材,冶金,航天,汽車 |
Belec IN-SPECT
Belec IN-SPECT是用于金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀。
臺(tái)式儀器以壓縮的方式將復(fù)雜的實(shí)驗(yàn)室儀器的大部分功能結(jié)合在一起。
Belec IN-SPECT—產(chǎn)品功能
•新5GSO系統(tǒng)提高整體分析效能(第5代光譜儀光學(xué)系統(tǒng))
•先進(jìn)的探測器,*展現(xiàn)在光譜學(xué)的應(yīng)用
•結(jié)構(gòu)緊湊
•服務(wù)和操作方面人性化設(shè)計(jì)
•低檢測下限-高精度
•易于操作的Belec Win 21軟件
•開放式火花臺(tái)
•富有吸引力的設(shè)計(jì)
Belec IN-SPECT 標(biāo)準(zhǔn)配置的惰性氣體流動(dòng)的光學(xué)光譜室,和對分析要求的不斷優(yōu)化使得設(shè)備富有吸引力。同時(shí),Belec IN-SPECT為用戶提供了高性能和準(zhǔn)確性。
連同其它配件一起,設(shè)備顯示了一個(gè)真正的分析單元,取代傳統(tǒng)的笨重而龐大的系統(tǒng)。
集成光譜儀,包含先進(jìn)的5GSO系統(tǒng),由BELEC工程師設(shè)計(jì),可以在任何類型的光譜線同時(shí)應(yīng)用時(shí)也不會(huì)出現(xiàn)相互的干擾。
Belec IN-SPECT — 技術(shù)數(shù)據(jù)
光學(xué)
•帕刑-龍格裝置光譜室
•羅蘭圓直徑300mm
•可用波長145-410 nm
•光柵,3600線/ mm
•色散率0.9 nm / mm(1次)
•耐沖擊
•恒溫探測器配備波長入射窗口(US許可)
•集成噪聲補(bǔ)償
•寬7μ像素優(yōu)化線分離
•一個(gè)基體模塊*校正,延伸到幾乎多個(gè)額外基體模塊
•不限數(shù)量的元素信道
•惰性氣體光譜室?guī)艋到y(tǒng)
•可選配置為:真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室
光源
•火花發(fā)生器的頻率400 Hz
•單極放電
•通過軟件控制預(yù)火花參數(shù)和集成數(shù)據(jù)參數(shù)
•通過軟件控制點(diǎn)火頻率程序
•通過軟件控制放電功率程序
•點(diǎn)火電壓20 kV
測量臺(tái)
•為精確分析的氬氣流測量臺(tái)
•火花測量臺(tái)上帶Ø10mm分析口,可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片
•可配合線材、管材和小零件的適配器使用
•低損鎢電極
•氣動(dòng)試樣夾具
•氬氣流量待機(jī)時(shí)0.1 l / min,分析時(shí)2 l / min
•免維護(hù)
電子器件
•10個(gè)探測器,每個(gè)3648像素,寬7μ像素
•溫度穩(wěn)定,精到0.1°C
•每個(gè)探測器都有獨(dú)立的AD轉(zhuǎn)換器,安裝在多通道板上,以高速通用USB端口連接
•集成噪聲抑制 - 集成背景補(bǔ)償
•無限數(shù)量的測量信道,可配置多個(gè)基體
尺寸
•寬30.5英寸(775毫米)
•高14.9英寸(380毫米)
•深度23.6英寸(600毫米)附加6.1英寸(155毫米)的火花臺(tái)
重量
•分析單元152.1磅 (69kg)附加顯示器和鍵盤
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•100 W待機(jī)時(shí)
•600 W分析時(shí)
真空系統(tǒng)電源(可選)
•600 W待機(jī)時(shí)
•1100W分析時(shí)
計(jì)算機(jī)硬件
•系統(tǒng)集成工業(yè)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
•Intel®Core®Duo T7400(2.16 GHz,4MBL2)
•2 GB DDR2 SD RAM內(nèi)存
•2.5“硬盤>60 GB
•19“彩色顯示器,其他尺寸也可用
•全尺寸外接鍵盤
•USB 2.0端口
•以太網(wǎng)接口
軟件
通用操作系統(tǒng),例如MS Windows 7
•遠(yuǎn)程服務(wù)系統(tǒng)(RSS)
•每次測量都會(huì)顯示分析值
•可以根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)不同分析程序
•每個(gè)分析程序都有獨(dú)立的分析參數(shù)
•自動(dòng)選擇程序(APF)
•分析計(jì)算:背景修正,曲線位置修正,乘和加相互修正
•以標(biāo)準(zhǔn)類型進(jìn)行自動(dòng)修正(類型校準(zhǔn))
•容易同時(shí)進(jìn)行多個(gè)程序的重校正(BGR)
•混料分選通過與參考工件的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行比較
•牌號分析是與預(yù)設(shè)的牌號范圍進(jìn)行比較
•類型校正和類型測量
•每個(gè)分析程序在相對和絕對含量的公差,可調(diào)整
•可選測量結(jié)果的平均和標(biāo)準(zhǔn)偏差
•當(dāng)數(shù)據(jù)超過校正曲線時(shí),會(huì)有報(bào)警信號
•輕松的同時(shí)重新校準(zhǔn)幾個(gè)程序
•通過使用MCDC(多信道漂移校正)延長重校正所需的周期
•自動(dòng)提示定期重校正
•自動(dòng)顯示牌號或物料號
•合金牌號數(shù)據(jù)庫可達(dá)100.000個(gè)或以上(取決于計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)量)
•顯示器上文字的大小可變,以達(dá)到清晰度
•自動(dòng)存儲(chǔ)功能
Fe-Ref. | Fe alloyed | Cr alloyed | Cr- Ni alloyed |
C | 0,001- 2,2 | 0,001- 2,2 | 0,001- 2,2 |
Si | 0,001- 3,5 | 0,001- 3,5 | 0,001- 3,5 |
Mn | 0,001- 2,5 | 0,001- 2,5 | 0,001- 2,5 |
P | 0,001- 0,45 | 0,001- 0,45 | 0,001- 0,45 |
S | 0,001- 0,15 | 0,001- 0,15 | 0,001- 0,15 |
Cu | 0,0005- 1,4 | 0,0005- 4,0 | 0,0005- 4,0 |
Al | 0,0005- 1,4 | 0,0005- 1,4 | 0,0005- 1,4 |
Cr-I | 0,0002- 5,0 |
|
|
Cr-II |
| 0,001- 28,0 | 0,001- 28 |
Mo | 0,001- 2,3 | 0,001- 3,5 | 0,001- 7,0 |
Ni-I | 0,001- 5,0 | 0,001- 5,0 |
|
Ni-II |
|
| 0,05- 38,0 |
V | 0,001- 1,2 | 0,001- 1,2 | 0,001- 1,2 |
Ti | 0,0005- 0,4 | 0,001- 1,2 | 0,001- 2,2 |
Nb | 0,001- 0,6 | 0,001- 1,2 | 0,001- 1,2 |
Co | 0,0005- 1,4 | 0,0005- 1,4 | 0,001- 1,4 |
W | 0,002- 3,0 | 0,002- 3,0 | 0,002- 1,5 |
Pb | 0,002- 0,15 |
|
|
Sn | 0,001- 0,5 |
|
|
B | 0,0005- 0,06 |
|
|
Zr | 0,001- 0,2 |
|
|
As | 0,002- 0,2 |
|
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Fe | Ref | Ref | Ref |
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