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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
二手SEM日立TM3030plus日立臺(tái)式電鏡TM3030Plus，是日立臺(tái)式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺(tái)式電鏡的品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量，而且無(wú)需樣品前處理.
詳細(xì)介紹
日立臺(tái)式電鏡TM3030Plus
二手SEM日立TM3030plus產(chǎn)品介紹：
TM3030Plus是日立臺(tái)式電鏡TM系列的成員，它繼承了日立臺(tái)式電鏡品質(zhì)。TM3030Plus在TM3030基礎(chǔ)上增加高靈敏度低真空二次電子探頭UVD，該探頭在低真空環(huán)境下具有很好的成像質(zhì)量，而且無(wú)需樣品前處理，放大倍數(shù)可達(dá)6萬(wàn)倍，數(shù)字放大可達(dá)24萬(wàn)倍。
主要參數(shù)：
1.放大倍率：×15～60,000
2.設(shè)定觀察條件：5KV/15KV/EDX
3.觀察模式：導(dǎo)體模式、標(biāo)準(zhǔn)模式、減電荷模式
4.檢測(cè)器：高靈敏度半導(dǎo)體四分割BSE探測(cè)器、低真空二次電子探測(cè)器
5.電子槍：預(yù)對(duì)中燈絲
二手SEM日立TM3030plus應(yīng)用領(lǐng)域：
生命科學(xué)
材料科學(xué)
化學(xué)
電子制造
食品工業(yè)
方案優(yōu)勢(shì)
低加速電壓成像在掃描電鏡成像中有著重要的作用。采用低加速電壓成像，低能電子束受到散射的擴(kuò)散區(qū)域小，相互作用區(qū)接近表面，有利于表面精細(xì)形貌成像。對(duì)于某些熱敏或?qū)щ娦阅懿畹臉悠?，如半?dǎo)體和器件、合成纖維、濺射或氧化薄膜、紙張、動(dòng)植物組織、高分子材料等，有時(shí)不允許進(jìn)行導(dǎo)電處理，而要求直接觀察，采用低加速電壓成像可以減小或消除此類樣品的荷電效應(yīng)同時(shí)減小電子束輻照損傷。下圖為氧化鋅樣品在5KV 和15KV 下的圖像對(duì)比，由圖像可知，在5KV 低加速電壓下，樣品表面細(xì)節(jié)特征清晰，有利于表面精細(xì)形貌的觀察。
帶有SwiftED3000的TM3000/TM3030的典型配置
*內(nèi)置EDX探測(cè)器
特點(diǎn)
硼以上輕元素檢測(cè)。
可進(jìn)行線掃描，面分布圖以及多點(diǎn)分析。
無(wú)需液氮?？稍趲追昼妰?nèi)快速，輕松分析。
可在同一顯示器上顯示圖像和元素?cái)?shù)據(jù)。
規(guī)格
項(xiàng)目 | 說(shuō)明 |
| 探測(cè)器類型 | 硅飄移探測(cè)器（SDD） |
| 能量分辨率 | 154電子伏特（Cu-Kα） （相當(dāng)于135電子伏特的Mn-Kα） |
| 探測(cè)元素范圍 | B5 - Am95 |
| 定性分析 | 自動(dòng)識(shí)別和手動(dòng)峰值識(shí)別 |
| 定量分析 | 無(wú)標(biāo)樣定量分析 |