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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
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| 參考價 | 面議 |
更新時間：2017-03-23 11:40:18瀏覽次數(shù)：720
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泰勒新型粗糙度儀Surtronic S-116關(guān)鍵特性
工廠和檢驗室應(yīng)用的耐用粗糙度測試儀泰勒霍布森與精密軸承，汽車和航空航天工程等行業(yè)的制造商緊密合作，重點關(guān)注當今精密行業(yè)質(zhì)量控制zui重要的關(guān)鍵特性。
新型Surtronic S-116系列儀器可根據(jù)您的特殊需求，為您的粗糙度要求提供多種解決方案，包括各種系統(tǒng)和應(yīng)用特定配件以及燈具。測量觸覺測量按鈕，當設(shè)備被使用在頂部或內(nèi)部管道時很好防滑腳*的安裝在平坦或曲面上。
特征：
V設(shè)計使測量與氣缸軸對準橡膠成型在車間環(huán)境中增添了保護和更好的抓地力的一系列粗糙度測試儀對于車間足夠強大，足夠靈活，可用于任何檢測室。
USB連接通過其行業(yè)標準A型USB端口和迷你USB端口，S-100系列儀器為許多標準設(shè)備提供廣泛的連接選項。
USB A型A型USB端口可用于連接便攜式打印機（ESC / POS兼容），請參閱“附件”頁面或標準USB存儲設(shè)備，用于記錄結(jié)果，原始數(shù)據(jù)或屏幕圖像。
USB mini迷你USB端口可用于充電（使用任何標準USB充電器）和/或連接到PC以提供進一步的分析和報告功能
任何表面，任何高度：
包括一個50毫米的觸控筆電動提升裝置和70mm以上的觸控筆，這意味著即使是挑戰(zhàn)性的表面也可以測量，而不需要昂貴的提升板，支架或固定裝置。 防滑V腳也意味著系統(tǒng)可以在平面或曲面上使用。 手寫筆甚至可以顛倒測量！
技術(shù)規(guī)格：
數(shù)據(jù)顯示 | 顯示屏每頁顯示7個測試結(jié)果，屏幕上可顯示輪廓圖（剖面圖） | ||
| 可以打印測試結(jié)果和圖形 | ||
| 使用Talyprofile軟件可以連接電腦，分析測試結(jié)果 | ||
數(shù)據(jù)存儲 | 儀器可以存儲100個測試數(shù)據(jù)和一個圖形 | ||
| 儀器支持U盤zui大4G，zui多可存儲39,000個圖形，每批可存儲10萬個測試結(jié)果，共70批數(shù)據(jù)。 | ||
| 使用Talyprofile軟件與電腦連接可以存儲無限數(shù)據(jù)。 | ||
電源： | 充電器 | USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz | |
| 充電時間 | 4小時 | |
| 電池壽命 | 充電一次可以做2000次測試 | |
| 待機時間 | 5000小時,由待機狀態(tài)到開機測試狀態(tài)，zui長時間不超過1秒I | |
| 自動關(guān)機 | 30秒– 6小時可以自行設(shè)置 | |
技術(shù)指標 | 測量范圍 | 200 um 100 um 10 um | |
| 分辨率 | 100 nm 20 nm 10 nm | |
| 底噪(Ra | 250 nm 150 nm 100 nm | |
| 重復(fù)精度 (Ra) | 1%測試值+底噪 | |
| 傳感器原 | 電感 | |
| 測量力 | 50-300mg | |
| 測針針尖半徑 | 標配5 μm (200 μin) 可選2μm(80μin)或10μm(400μin) | |
| 測試方式 | 滑動掃描 | |
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動著精良制造技術(shù)的精益求精。
DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.
