EPK公司GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀

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EPK公司GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀

德國(guó)EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀利用庫(kù)侖電量分析原理，測(cè)量鍍層、多層鍍層厚度。德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000，應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理。其過(guò)程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬，而基體不受影響。

特點(diǎn)：
可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合

可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層

可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、

用戶可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)

預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

測(cè)量電池電壓曲線
特性測(cè)量電池電壓曲線的打印圖形地表示在測(cè)量結(jié)束時(shí)其典型的電壓跳躍的測(cè)量過(guò)程。 電壓跳變終止測(cè)量，厚度自動(dòng)顯示為微米或密耳。 去鍍區(qū)域的尺寸去鍍區(qū)域的尺寸可以使用隨附的墊圈或面罩定界。 下圖顯示了使用D-mask（0,25平方毫米）時(shí)劃分的測(cè)量區(qū)域的實(shí)際脫鍍面積大小以及微觀視圖。

存儲(chǔ)功能

可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目

可存儲(chǔ)2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值 

儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。