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詳細(xì)摘要：納米粒度及Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動態(tài)光散射 （DLS）、電泳光散射 （ELS） 和靜態(tài)光散射 （SLS） 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。 產(chǎn)品型號：Litesizer 500所在地：奧地利 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：膠體Zeta電位分析儀，英文名：colloid Zeta potential analyzer，基于電聲法的測試原理，主要應(yīng)用原濃分散體系中Zeta電位測定，包括CMP漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥漿料，催化劑交流，化妝品、藥物乳劑等 產(chǎn)品型號：DT-300所在地：美國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：法國WALLIS 多普勒電泳高分辨率Zeta電位分析儀具有的分辨率，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)，并且可以和其它分析手段聯(lián)用。為制藥行業(yè)的反應(yīng)監(jiān)測和藥瓶中的蛋白質(zhì)聚集體納米階段的生成監(jiān)控， 產(chǎn)品型號：WALLIS所在地：法國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：ZetaCAD固體表面Zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。 產(chǎn)品型號：ZetaCAD所在地：法國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。ZetaCompact視頻追蹤式Zeta電位測定儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。 產(chǎn)品型號：ZetaCompact所在地：法國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：DT-330 固體表面電位儀許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動學(xué)。 產(chǎn)品型號：所在地：美國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：DT-310 雙電層厚度是許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動學(xué)。 產(chǎn)品型號：DT-310所在地：美國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：DT-1202 超聲粒度和zeta電位分析儀美國分散科技公司（DTI）專注于非均相體系表征的科學(xué)儀器業(yè)務(wù)。DTI開發(fā)的基于超聲法原理的儀器主要應(yīng)用于在原濃的分散體系中表征粒徑分布、zeta電位、流變學(xué)參數(shù)、固體含量、孔隙率，包括CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥，藥物乳劑，并可應(yīng)用于多孔固體。 產(chǎn)品型號：所在地：美國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：DT-300 電聲法Zeta電位儀許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動學(xué)。 產(chǎn)品型號：所在地：美國 參考價：面議
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詳細(xì)摘要：DT-310電聲法Zeta電位儀Zeta電位儀：許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中，我們常提及的名字:斯托克斯，瑞利，麥克斯韋，亨利，廷德爾，雷諾，德拜。。。。。。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布，流變學(xué)和電動學(xué)。 產(chǎn)品型號：美國所在地：美國 參考價：面議
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儀思奇（北京）科技發(fā)展有限公司主營產(chǎn)品：潤濕比表面分析儀-動態(tài)圖像法粒度分析儀-粒子分散穩(wěn)定性分析儀
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