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          儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司 儀思奇(北京)科技發(fā)展有限公司
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          詳細(xì)摘要:光散射納米粒度儀THETIS™將三種測量類型組合到了一臺精致的小型儀器中,包括動(dòng)態(tài)光散射(DLS,粒度)、去偏振動(dòng)態(tài)光散射(DDLS,粒形),具有連續(xù)多角度功能的靜態(tài)光散射(SLS,構(gòu)象)
          發(fā)布時(shí)間:2024/12/2所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:自動(dòng)電位滴定儀,英文名:Automatic potential titrator,基于電聲法的測試原理,主要應(yīng)用漿料分散體系中Zeta電位,等電點(diǎn),雙電層厚度,測定,包括CMP漿料,納米分散體系、陶瓷
          發(fā)布時(shí)間:2024/12/1所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:Occhio Zephyr系列 粒度粒形分析儀度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計(jì)學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個(gè)別顆粒的直觀信息,還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計(jì)信息,從而
          發(fā)布時(shí)間:2024/11/4所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:歐奇奧 Zephyr 圖像法粒度分析儀粒度粒形分析儀將圖像這一直觀的觀察測量方法與統(tǒng)計(jì)學(xué)相結(jié)合的圖像法顆粒粒度粒形表征不僅能夠得到個(gè)別顆粒的直觀信息,還能夠得到 樣品的粒徑和形貌的統(tǒng)計(jì)信息,從而幫助使
          發(fā)布時(shí)間:2024/11/4所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:顆粒形貌分析儀是一臺的簡便的粉體和顆粒表征的自動(dòng)粒徑粒形分析儀, 可以分析范圍在0.2m-3000m之間的粉體顆粒粒徑;也可以分析范圍在0.8 - 300m的懸浮液和乳濁液;還可以利用背光表面分析技術(shù)
          發(fā)布時(shí)間:2024/9/8所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:歐奇奧500NanoXY全自動(dòng)靜態(tài)干法和濕法粒度粒形分析儀 歐奇奧500NanoX是一臺粉體顆粒表征的的全自動(dòng)干/濕法粒度粒形分析儀, 從2001年以來,歐奇奧通過各界精英的努力,終于完成了從200納
          發(fā)布時(shí)間:2024/9/8所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:雙電層厚度許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中,我們常提及的名字:斯托克斯,瑞利,麥克斯韋,亨利,廷德爾,雷諾,德拜。。。。。。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信息: 粒徑分布,流
          發(fā)布時(shí)間:2024/7/23所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:納米粒度和Zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微米顆粒的儀器。它可通過測量動(dòng)態(tài)光散射 (DLS)、電泳光散射 (ELS) 和靜態(tài)光散射 (SLS) 來測定顆粒尺寸、zeta電位和
          發(fā)布時(shí)間:2024/7/23所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:全自動(dòng)物理吸附分析儀是一款超高速,的測試精度及穩(wěn)定性,適用于樣品快速篩選及質(zhì)量監(jiān)控;配置恒溫循環(huán)裝置后,可進(jìn)行等溫度吸附測試。
          發(fā)布時(shí)間:2024/7/23所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:旗艦版多通道電池測試站VMP-300的模塊化機(jī)箱為恒電位儀/恒電流儀/ EIS板和/或升壓板提供了16插槽。在機(jī)箱內(nèi)插槽和升壓板結(jié)合,或者可以有很多通道,或者可以實(shí)現(xiàn)高電流。
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:粒度粒形檢測儀廣泛適用于工業(yè)、生物、地質(zhì)領(lǐng)域,無論是水相的還是有機(jī)溶液相的所有樣品都能進(jìn)行實(shí)時(shí)分析,瞬間給出分析結(jié)果,快速、即時(shí)反饋實(shí)驗(yàn)進(jìn)程。
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:歐奇奧 SIEVECAL篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測儀通過全計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序(SOP)提供篩網(wǎng)表面的一個(gè)完整掃描。快速高分辨工業(yè)相機(jī), 結(jié)合遠(yuǎn)心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實(shí)時(shí)計(jì)算網(wǎng)孔大小
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:歐奇奧 SIEVECAL篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測儀通過全計(jì)算機(jī)控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序(SOP)提供篩網(wǎng)表面的一個(gè)完整掃描??焖俑叻直婀I(yè)相機(jī), 結(jié)合遠(yuǎn)心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實(shí)時(shí)計(jì)算網(wǎng)孔大小
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:固體孔隙率測定儀包含DT-300的功能,能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),,包括顆粒、沉積物和多孔材料
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:歐奇奧IPAC2型全自動(dòng)蛋白質(zhì)聚集體粒度/計(jì)數(shù)分析儀高分辨CCD圖像采集性,*減小分辨率引起的圖形處理誤差;的系統(tǒng)優(yōu)化避免高速攝像過程中產(chǎn)生的抖動(dòng)干擾;使用藍(lán)光單色光源,避免衍射干擾;準(zhǔn)直光源使顆粒邊
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:DT-330 固體表面電位儀許多的科學(xué)家把聲學(xué)應(yīng)用到膠體體系中,我們常提及的名字:斯托克斯,瑞利,麥克斯韋,亨利,廷德爾,雷諾,德拜。。。。。。通過聲學(xué)和電聲學(xué)手段會提供關(guān)于顆粒表征的三個(gè)重要領(lǐng)域的信
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:MCS10 多通道電導(dǎo)率譜儀MCS10 集成的多通道電導(dǎo)率譜儀。MCS10是在寬的溫度范圍內(nèi),專門研究離子液體和液體電解質(zhì)的多通道電導(dǎo)率譜儀。
          發(fā)布時(shí)間:2024/6/10所在地:北京北京市
          詳細(xì)摘要:DT-700非水電導(dǎo)率測定儀?簡便測定非水系統(tǒng)的電導(dǎo)率?手提型,容易b使用,成本低?測量范圍寬: 0-200μs/m; 從Z小跨度1pS/m 到Z大跨度200μs/m?高精度測量: &#177
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          詳細(xì)摘要:RUFUTO-871介電常數(shù)測定儀●從純水到非極性有機(jī)溶劑的介電常數(shù)測定●量程:1~20; 1~200;度: &#177;2%●可以測定混合溶劑相,用于提高Zeta電位的計(jì)算精度●操作簡單,校
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          詳細(xì)摘要:502型顯微電泳法Zeta電位儀●通過傳統(tǒng)微電泳方法測量膠體顆粒的zeta 電位。與激光光散射法相比,沒有黑盒子?!?02的*的超顯微鏡設(shè)計(jì)提供了一個(gè)高對比度的圖像,即使是納米粒子。依賴于顆粒對懸浮介
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