美國(guó)MEGGER S1-552絕緣電阻測(cè)試儀儀器說明
新5KV&10KV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger 設(shè)計(jì)用來測(cè)試和維護(hù)高壓電氣設(shè)備的。IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020來測(cè)試額定超過12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。

美國(guó)MEGGER S1-552絕緣電阻測(cè)試儀

220V電源和電池供電 
數(shù)字和模擬背光顯示 |
測(cè)試電壓從50V到5000V或10000V可變 
自動(dòng)進(jìn)行I、R、PI、DAR、SV和DD測(cè)試 |
測(cè)試阻抗可達(dá)15 TΩ或35T（S1-1052） 
輸出電流5mA 
RS232和USB傳輸端口，輸出測(cè)試數(shù)據(jù) 
測(cè)試數(shù)據(jù)能儲(chǔ)存在儀器中

美國(guó)MEGGER S1-552絕緣電阻測(cè)試儀儀器說明 
    新5KV&10KV絕緣電阻測(cè)試儀是Megger 設(shè)計(jì)用來測(cè)試和維護(hù)高壓電氣設(shè)備的。IEEE43-2000推薦使用者可以使用MIT1020來測(cè)試額定超過12KV的電動(dòng)機(jī)的繞組。儀器外殼人性化設(shè)計(jì)，讓使用者運(yùn)輸或者使用的時(shí)候都非常方便，其外殼的設(shè)計(jì)符合IP65標(biāo)準(zhǔn)。此外，儀器的標(biāo)號(hào)分別標(biāo)在儀器的頂部和旁邊，方便儲(chǔ)存或者運(yùn)輸?shù)臅r(shí)候辨認(rèn)。

    儀器帶有一個(gè)很大的，便于讀數(shù)的背光LCD顯示屏，讓使用者在光線很差的環(huán)境中也能清晰的讀出讀數(shù)。顯示的信息包括電阻，電壓，泄漏電流，電容，電池狀態(tài)和時(shí)間。此外，儀器還會(huì)顯示試驗(yàn)已用的時(shí)間，這就不需要額外加一個(gè)計(jì)時(shí)器來計(jì)算時(shí)間。
    儀器可由220V電源供電，也可以由儀器內(nèi)置可以充電電池供電。這樣有一個(gè)好處就是要測(cè)試的場(chǎng)所不清楚是否有電源或者測(cè)試周期不清楚的時(shí)候，都可以來進(jìn)行測(cè)試。儀器上還帶有一個(gè)接地端子，使儀器能提高其*性。 
    儀器的控制的操作都清楚的寫在儀器隨機(jī)器附帶的說明書里面。
    為了進(jìn)一步增強(qiáng)儀器的適應(yīng)性，儀器的電壓設(shè)置可以以50V為步長(zhǎng)來設(shè)置所需要的電壓，這樣就不需要進(jìn)行低電壓測(cè)試的時(shí)候需要另外購(gòu)買儀器來進(jìn)行測(cè)試。
    儀器的IR功能設(shè)置使儀器能符合zui高的安全標(biāo)準(zhǔn)和達(dá)到EN61010標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)儀器測(cè)試電壓高于50V的時(shí)候，儀器就會(huì)顯示高壓警告。在測(cè)試完成后，儀器電壓自動(dòng)降為0，其內(nèi)的放電回路自動(dòng)放電。 
    本儀器非常適合IR，PI，DAR，SV和DD等參數(shù)的測(cè)量，符合常規(guī)檢測(cè)和診斷的要求。

儀器規(guī)格 
輸入電壓:95-240 V 50Hz
S1-552 電池壽命:在5 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作6小時(shí)
S1-1052 電池壽命:在10 kV測(cè)試電壓下連續(xù)工作4小時(shí)
S1-552 測(cè)試電壓:50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到 5 kV 以25V為步進(jìn)電壓
S1-1052 測(cè)試電壓:50 V 到 1 kV 以10V為步進(jìn)電壓, 1 kV 到 10 kV 以25V為步進(jìn)電壓
*度 (23°C):
±5% 在 1 TΩ范圍內(nèi)
±20% 在 10 TΩ范圍內(nèi)(S1-552) 
在 20 TΩ范圍內(nèi)(S1-1052)
輸出電流:5 mA 
S1-552 充電時(shí)間:在 5mA / 5 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤ 1.5 s / μF
S1-1052 充電時(shí)間:在 5mA / 10 kV狀態(tài)下充電時(shí)間≤ 3 s / μF 
S1-552 放電時(shí)間:放電從 5000 V 到 50 V時(shí)間為≤ 120ms/μF
S1-1052 放電時(shí)間:放電從10000 V 到 50 V≤ 250ms/μF
電容測(cè)量:10 nF 到 50 μF (取決于測(cè)試電壓)
電容測(cè)量*度(23°C):±5% ±5 nF
電壓輸出*度 (0°C 到 30°C):
+4% ±10 V of nominal test voltage at 1 GΩ load
±25 V for test voltages less than 500 V
電流測(cè)試范圍:0.01 nA 到 5 mA
電流測(cè)試*度(23°C):±5% ±0.2 nA 
顯示:3位數(shù)字/模擬顯示
抗干擾:2 mA rms @ 200 V 
定時(shí)器范圍:zui高定時(shí)間99:59 
內(nèi)存容量:32kB
其他測(cè)試性能:IR、 PI、 DAR、SV 、 DD.
傳輸接口:RS232 和 USB
數(shù)據(jù)存儲(chǔ):電壓，測(cè)試時(shí)間，泄漏電流，阻抗，電容，PI, DAR, DD
實(shí)時(shí)輸出:能連續(xù)不斷的輸出測(cè)試電壓，電流和阻抗 
尺寸:305 x 194 x 360 mm 
重量:7.1 kg