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德國Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)產品介紹
臺式CT斷層掃描儀用于植物根系、莖干、果實、種子、葉片等分析，為研究提供數據和進行數據分析。該系統(tǒng)符合EN規(guī)范電氣安全線路要求。另外，對特定客戶的需求，我們也提供個性化設備配置。比如您需要比技術參數更高的分辨率，或者需要測量的目標尺寸超過了技術參數中的最大尺寸，重量或材料厚度等，我們會針對您的特殊應用來提供解決方案。
產品優(yōu)勢
無損監(jiān)測系統(tǒng)
適用于不同植物種子、根系等
可快速有效掃描種子
易于操作使用
通過螺旋掃描實現(xiàn)所有體積層的各向分辨率
用戶友好的控制軟件、專有圖像處理軟件
根據特定檢測任務調節(jié)系統(tǒng)，降低成本
也適合土壤研究
德國Fraunhofer植物表型分析系統(tǒng)應用領域
臺式CT斷層掃描儀不僅運用于生物學，如植物根系、莖干、果實、種子、葉片等分析，也適用于地質學和考古學的大學或研究機構，也可用于對土壤結構如團粒結構等進行無損檢測，分析土壤和根系關系以及結構等。
臺式CT斷層掃描儀提供一種快速可視的物體內外結構三維模式，在生物學、工業(yè)無損檢測領域里變得越來越重要。
種子分析：玉米、小麥等
植物生長分析：葉片結構、根系結構等
土壤：土壤結構等
地理學和考古學：巖石樣品等
測量技術描述
除了X光源以及高分辨率檢測器，此易于操作的設備本身還配有旋轉的操作系統(tǒng)。螺旋功能集成在操作控制軟件中，當測試目標旋轉360°后，可進行垂直操作。該設計確保了高品質測量結果，不產生無用制品，特別是在檢測多層結構目標時。根據樣品尺寸(參見技術參數)，掃描可一步完成，之后便將測量數據保存以便瀏覽。系統(tǒng)自帶Fraunhofer EZRT研發(fā)中心開發(fā)的控制軟件，直觀友好的界面可逐步指導用戶進行個性化設置，直至獲得所需結果，即便客戶沒有經驗或沒有參加培訓亦可進行操作。有經驗的用戶可使用加強版軟件界面以對所有部件實現(xiàn)中心控制。在執(zhí)行測量前，可用備選功能實現(xiàn)模擬測量。
技術參數
重量：150kg
軟件：Fraunhofer Volex;Fraunhofer VP
X-射線檢測器分辨率：49.5 μm
最大掃描面積：21cmX10cm
掃描方式：樣品360°轉動
掃描時間：快速2-10分;高分辨率模式，60 - 80分
X-射線檢測器表面涂層：Gd2O2S閃爍體材質
安全防護：安全線路設計，防輻射設計
掃描儀操作電壓： 230 V或380 V( 50 Hertz)
樣品升降操作距離：20cm
像素數(px)：2304 x 1300
手動定位放大倍數：1.6倍(Φ140 mm)- 35倍(Φ 1 mm)
環(huán)境條件：操作溫度10℃-30 ℃，濕度10-85%，防塵
樣品操作旋轉臺：n x 360°
利用CT斷層掃描儀篩選小麥耐旱耐熱性
提高小麥對非生物脅迫的耐受性，需要對產量構成因素如粒數、單粒重等進行大規(guī)模篩選，這些都是非常費時費力的，而對種子形態(tài)的詳細分析在視覺上往往是不可能的。計算機斷層掃描技術為更快速、更準確地評估產量構成因素提供了機會。通過對種子和穗部形態(tài)的詳細分析來評估不同脅迫條件下不同品種小麥種子的性狀。對203份不同品種小麥的X射線計算機斷層掃描分析結果表明，該方法能夠以 95-99%的準確率評估小麥結實；大多數暴露在干旱和高溫脅迫下的材料都發(fā)育出較小的、干癟的種子，種子表面增加；與干旱相比，干旱和高溫疊加作用顯著降低了種子重量、穗粒數和單粒大小，*測定了干旱和高溫聯(lián)合脅迫下的種子皺縮和胚芽變形等形態(tài)性狀。CT斷層掃描分析方法可以檢測小麥、小麥穗甚至單粒種子之間的微小遺傳差異，這對于提高糧食產量和生產有韌性的品種至關重要。更重要的是，該方法是易于自動化的，能夠以很高的分辨率在短時間內完成大批量小麥麥穗的表型分析。在大規(guī)模的遺傳研究和育種計劃中，每年都要對大量材料進行實地評估，這一分析處理能力與遺傳研究和育種計劃相適應。
參考文獻
Jessica S, Joelle C , Norbert W, Anja E, Delphine F, Trevor G, Stefan G. (2020). Drought and heat stress tolerance screening in wheat using computed tomography. Plant Methods, 16:15
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