目錄:上海聞奕光電科技有限公司>>光譜儀>>光纖光譜儀>> EQ2000教學實驗光纖光譜儀
| 按探測器 | CCD | 動態(tài)范圍 | 3000:01 |
|---|---|---|---|
| 分辨率 | 0.2-3.0nm | 光譜范圍 | 近紅外,200~1100nm |
| 光譜范圍 | 近紅外,200~1100nm | 價格區(qū)間 | 面議 |
| 靈敏度 | 130 photons/count at 400 nm; 60 photons/ | 信噪比 | 400:01 （全量程范圍） |
| 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè) | 雜散光 | <0.01% at 600 nm; <0.03% at 435 nm |
聞奕光電EQ2000教學實驗光纖光譜儀，可提供最高 0.1nm 的光學分辨率，100nm的焦距和0.11的數(shù)值孔徑組合可以使光譜儀在不增大自身體積的情況下達到分辨率與靈敏度的最佳平衡；
EQ2000教學實驗光纖光譜儀是一款設計輕便、便攜式微型光譜儀。該系列光譜儀適用于科研及工業(yè)生產(chǎn)的普通光譜測量應用，測量精度高且自帶軟件，以其超高的性價比應用于多種涉及光譜測量分析的領域，如：等離子體測量、LED分揀、顏色測量、化工過程分析等；而且憑其*的設計可以方便的集成到其他系統(tǒng)中。
高速控制技術能在1ms內(nèi)設定新的積分時間，節(jié)省用于光譜儀控制的時間；
EQ2000光纖光譜儀可以配備經(jīng)特殊紫外敏化處理的深紫外CCD，能夠?qū)⒐庾V探測范圍拓展至深紫外波段；同時EQ2000高分辨光纖光譜儀，具有標志位和底層調(diào)用技術，在保證高速測量的情況下，進一步提升測量精度；可以讓用戶的產(chǎn)品處于技術地位，賦予產(chǎn)品更強的議價能力；搭配提供低成本光纖，搭建個性化的光譜測量設備。
· 1、高分辨光學平臺，在不增大光譜儀自身體積情況下達到分辨率與靈敏度的最佳平衡；
· 2、全譜段技術，使用線性漸變消高階濾光片和可變閃耀光柵，解決了寬譜段效率均衡與高階干擾的問題，最寬譜段覆蓋范圍達 200-1100 nm；
· 3、超高分辨率，提供最高 0.1nm 光學分辨率；
· 4、高速控制技術，能在 1ms 內(nèi)設定新的積分時間，節(jié)省用于光譜儀控制的時間；
· 5、標志位技術，隨時可查詢光譜儀采譜完成狀態(tài)，隨時打斷重新采集，不需長時間等待；
· 6、底層調(diào)用技術，支持系統(tǒng)集成開發(fā)，方便用戶更快速地開發(fā)光譜儀應用程序。
EQ2000光纖光譜儀
| 機械參數(shù) | |||
| 項目 | 值 | ||
| 尺寸(mm) | 128*90*27 | ||
| 重量 (g) | 500 | ||
| 探測器參數(shù) | |||
| 項目 | 值 | ||
| 探測器 | SONY ILX554B 線陣CCD陣列 | ||
| 探測器響應范圍(nm) | 200-1100 | ||
| 有效像素 | 2048 | ||
| 像素尺寸(µm) | 14 x 56 | ||
| A/D分辨率 | 16 bit | ||
| 光響應非均勻性 | 1%(最大) | ||
| 靈敏度 (V/lx·s) | 130 photons/count at 400 nm; 60 photons/count at 600 nm | ||
| 光學系統(tǒng)參數(shù) | |||
| 項目 | 值 | ||
| 光學系統(tǒng) | F/4, f/4, 對稱交叉光路 | ||
| 焦距(mm) | 75 mm | ||
| 狹縫尺寸 (µm) | 5, 10, 25, 50, 100,200等,或者無狹縫（定制） | ||
| 光柵 | 各種不同參數(shù)的同閃耀波長的刻劃光柵或全息光柵（可定制） | ||
| 柱面鏡s | 可選件 | ||
| 消二級光譜濾光片 | 帶通或長波通濾光片以消除二級光譜 | ||
| 光纖及其連接接口 | NA 0.22, SMA905 | ||
| 光譜參數(shù) | |||
| 項目 | 值 | ||
| 光譜波長測試范圍 | 依賴光柵選擇,200~1100nm | ||
| 光譜分辨率(nm) | ~0.035-8.4 nm FWHM (由光柵常數(shù)、狹縫寬以及探測器型號等決定) | ||
| SNR | 300:01:00 (全量程范圍) | ||
| 波長容差 | About ±0.2 | ||
| 積分時間 | 1毫秒至2秒 | ||
| 動態(tài)范圍 | 300 | ||
| 雜散光 | <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm | ||
| 矯正線性度： | >99.8% | ||
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