篤摯儀器(上海)有限公司
主營產品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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參考價 | 面議 |
更新時間:2024-09-01 11:02:21瀏覽次數:2496
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TP200系統(tǒng)組件包括:
REVO®五軸測量多類型傳感器系統(tǒng)雷尼紹的測頭測量系統(tǒng)經過精心設計, 選用雷尼紹的全系列測針時性能**。 下列測頭全部使用M2螺紋測針, 但配備適當的轉接頭也可使用其他螺紋規(guī)格的測針。
TP2
• TP20
• TP200
TP200探頭
TP200探頭結合了應變片技術,提供了出色的重復性和準確的三維形式測量,即使是長樣式。探頭內的固態(tài)ASIC(應用集成電路)電子設備確保數百萬觸發(fā)點的可靠運行。觸針模塊通過高重復性磁運動接頭安裝在探針上,提供快速更換觸針的能力和探針超程保護。有三個觸針模塊可提供兩種不同的超程力。標準力(SF)模塊適用于大多數應用。低力(LF)模塊建議用于小型精密球造型或精密材料。擴展超程(EO)模塊與標準模塊具有相同的超程力,但在Z軸上增加了8 mm的超程,以防損壞。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
---|---|---|
主要應用 | 用于需要高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣,但當出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。 |
感應方向 | 六軸:±X、±Y、±Z | 六軸:±X、±Y、±Z |
單向重復性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:0.50 µm | 電平觸發(fā)1:0.40 µm 電平觸發(fā)2:0.50 µm |
XY (2D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1:±0.80 µm 電平觸發(fā)2:±0.90 µm | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.2 µm |
XYZ (3D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1:±1 µm 電平觸發(fā)2:±1.40 µm | 電平觸發(fā)1:±2.50 µm 電平觸發(fā)2:±4 µm |
測針交換的重復性 | SCR200:±0.50 µm(大) 手動:±1 µm(大) | SCR200:±0.50 µm(大) 手動:±1 µm(大) |
測力(測尖) | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N | XY平面(所有模塊):0.02 N Z軸(所有模塊):0.07 N |
過行程測力(位移為0.50 mm時) | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N | XY平面(SF / EO模塊):0.2 N至0.4 N XY平面(LF模塊):0.1 N至0.15 N Z軸(SF / EO模塊):4.90 N Z軸(LF模塊):1.60 N |
重量(測頭傳感器和模塊) | 22 g | 22 g |
長加長桿(如配在PH10 PLUS系列測座上) | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測針長度(M2測針系列) | SF / EO模塊:50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質至50 mm GF | SF / EO模塊:50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊:20 mm鋼質至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動:SCR200 手動:MSR1 | 自動:SCR200 手動:MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF(標準測力) | LF(低測力) | EO(長過行程) |
---|---|---|---|
應用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |