篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達(dá)色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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參考價 | 面議 |
更新時間:2024-09-01 13:48:16瀏覽次數(shù):1332
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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TP200:具有模塊交換功能的超小型應(yīng)變片式測頭
特性與優(yōu)點
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雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng),既可在手動坐標(biāo)測量機上進(jìn)行簡單的性能檢測,也可在數(shù)控高速機器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。
觸發(fā)式測頭測量離散的點,是檢測三維幾何工件的理想選擇。
雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價比的系統(tǒng),既可在手動坐標(biāo)測量機上進(jìn)行簡單的性能檢測,也可在數(shù)控高速機器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測量。
TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量,即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性,并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意:我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
附件:
測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上,具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。
有三種測針模塊可供選擇,具有兩種不同的過行程測力。
模塊 | SF(標(biāo)準(zhǔn)測力) | LF(低測力) | EO(長過行程) |
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應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
說明 | 測針長可達(dá)100 mm,測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |