篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 美能達色差計,尼克斯測厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測厚儀,防夾力測試儀 |
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更新時間:2024-09-01 14:21:45瀏覽次數(shù):1207
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測量效率顯著提高
PH20的*“測座碰觸”可以僅通過移動測座、而不是坐標(biāo)測量機結(jié)構(gòu)來采集測量點。僅使用測座的快速旋轉(zhuǎn)運動,可更快地采集測量點,并且提高了精度和重復(fù)性。
此外,五軸運動可省去旋轉(zhuǎn)測座的時間。綜合上述因素,這些速度的顯著提高使得新系統(tǒng)的測量效率比傳統(tǒng)系統(tǒng)提高了兩倍。在任意角度均易于測觸特征PH20的無級定位能力可保證工件測量,減少測針的更換次數(shù)。五軸同步運動通過減少工件周圍測座旋轉(zhuǎn)所需的空間,實現(xiàn)在坐標(biāo)測量機上可測量較大工件。
PH20使用工件坐標(biāo)系自動對齊,可避免測針碰撞,而且無需精密夾具。
傳統(tǒng)觸發(fā)測量方法依靠加快坐標(biāo)測量機的三軸運動速度進行快速測量,PH20與之不同,它采用為REVO系統(tǒng)(曾獲得多項殊榮)開發(fā)的測座運動技術(shù),可在較高的測量速度下將坐標(biāo)測量機的動態(tài)誤差降至低。
PH20*的“測座碰觸”可以僅通過移動測座而不是坐標(biāo)測量機結(jié)構(gòu),來采集測量點??梢愿斓夭杉瘻y量點,并且提高了精度和可重復(fù)性。
此外,五軸聯(lián)動可省去測座旋轉(zhuǎn)定位時間。綜合上述因素,這些速度的顯著提高使得新系統(tǒng)的測量效率比傳統(tǒng)系統(tǒng)提高了兩倍。
快速校準(zhǔn)
為PH20開發(fā)的*“推論校正”技術(shù)可以一次確定測座方向和測頭位置,可實現(xiàn)以任意測座角度完成后續(xù)測量。(如果需要提高測量精度,可循工件特定方向個別校正測頭端部。)由于為符合質(zhì)量管理程序或在測頭碰撞后,定期重復(fù)進行校正過程,因此日積月累,可以節(jié)省大量的時間。內(nèi)置行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)TP20測頭PH20測座的用戶可以直接配用一系列成熟的TP20測頭模塊,提供各種測力、方向感應(yīng)選項和加長桿,以滿足應(yīng)用需求 *。磁力式模塊可提供碰撞保護,并可以利用MCR20NI交換架實現(xiàn)自動交換。
* 不包括高測力模塊
PH20測座的用戶可以直接配用一系列成熟的TP20測頭模塊,提供各種測力、方向感應(yīng)選項和加長桿,以滿足應(yīng)用需求。磁力式模塊可提供碰撞保護,并可以利用TCR20交換架實現(xiàn)自動交換。