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篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
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| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-09-01 15:22:13瀏覽次數(shù)：1621
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| 測(cè)定材料 | 金屬硬度計(jì) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器類型 | 便攜式 |
bambino2/Piccolo 2 （瑞士）金屬硬度計(jì)
Piccolo 2 和 Bambino 2 的區(qū)別:
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 都適用于在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)金屬硬度，且檢測(cè)壓痕盡可能小?？煽康脑O(shè)計(jì)和大顯示屏允許用戶在 可見(jiàn)性很低的粉塵工作環(huán)境中使用。兩種產(chǎn)品還能夠以所有常用標(biāo)度顯示金屬硬度。 Piccolo 2 的功能除與 Bambino 2 相同外，還具有下列更多功能：
1) 用戶定義的硬度轉(zhuǎn)換
2) 具有下列應(yīng)用的 Piccolink 軟件：
a) 系統(tǒng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)硬度
b) 在連續(xù)生產(chǎn)過(guò)程中自動(dòng)測(cè)試
c) 評(píng)估和處理測(cè)量數(shù)據(jù)
d) 遙控 Piccolo 2 設(shè)置
BAMBINO2 便攜式硬度計(jì)是一款使用簡(jiǎn)便的便攜式硬度測(cè)試儀，可用于大多數(shù)金屬的硬度測(cè)量。BAMBINO2結(jié)合了現(xiàn)代電子學(xué)和沖擊裝置，提供較好的性價(jià)比。這款獨(dú)立式測(cè)試儀無(wú)須其他顯示裝置、電纜或計(jì)算機(jī)硬件。有著輕巧而緊致設(shè)計(jì)的BAMBINO 2是質(zhì)量控制、來(lái)料檢驗(yàn)和全部產(chǎn)品測(cè)試的理想之選。BAMBINO2 便攜式硬度計(jì)其簡(jiǎn)便易操作的用戶操作界面和實(shí)用的功能使得成為符合人體工學(xué)的集成式回彈硬度測(cè)試儀。
金屬硬度可通過(guò)不同的標(biāo)度顯示：HLD（里氏）、HRC（洛 氏）、HB（布氏）、HV（維氏）等。使用 Piccolo 2 / Bambino 2 *且獲得的單一加載釋放機(jī)制，可通過(guò)任何 選定的硬度標(biāo)度來(lái)獲取和顯示硬度測(cè)量值。 Equotip Piccolo 2 具有一個(gè)額外的功能，允許用戶為特殊合 金自定義轉(zhuǎn)換曲線，還允許用戶將硬度讀數(shù)轉(zhuǎn)換為抗張強(qiáng)度。
Bambino 2： 現(xiàn)場(chǎng)快速檢測(cè)硬度:
應(yīng)用示例 1：刮擦可在工程組件中導(dǎo)致災(zāi)難性的故障，例 如，在發(fā)電廠的渦輪中，要求耐磨部件能夠承受高機(jī)械應(yīng) 力。帶有 DL 探頭的 Bambino 2 可用于確保應(yīng)力凹槽、接 頭和邊緣具有適當(dāng)?shù)挠捕纫源笙薅鹊販p少刮擦。 “Equotip 的測(cè)量結(jié)果具有很高的可重復(fù)性，這一點(diǎn)是它 與競(jìng)爭(zhēng)對(duì)手的產(chǎn)品的大區(qū)別。使用 Bambino 2 纖長(zhǎng)的 DL 探頭，可在柱螺栓上非常有限的空間中進(jìn)行操作。”Voith Siemens Hydro Power Generation
應(yīng)用示例 2：冷軋常用于減少金屬板的厚度。為了避免層 裂，Equotip 和 Equotip 提供的里氏硬度單位 HL 可用作 惡劣環(huán)境中的軋輥檢驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)。輕巧的 Equotip Bambino 2 適用于對(duì)軋輥進(jìn)行快速間歇式檢驗(yàn)。
附件 通用 352 95 021 Equotip DL 附件工具包 350 01 015 Equotip 耦合劑 測(cè)試塊 357 11 100 Equotip 測(cè)試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (<500HLD/<225HV/<220HB) 357 12 100 Equotip 測(cè)試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~600HLD/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 100 Equotip 測(cè)試塊 D/DC，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) 357 11 120 Equotip 測(cè)試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (<710HLDL/<225HV/<220HB) 357 12 120 Equotip 測(cè)試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~780HLDL/~335HV/~325HB/~35HRC) 357 13 120 Equotip 測(cè)試塊 DL，經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~890HLDL/~630HV/~56HRC) 357 10 109 Equotip 測(cè)試塊插入式校準(zhǔn) D/DC 357 10 129 Equotip 測(cè)試塊插入式校準(zhǔn) DL
