 |
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
會(huì)員.png)
8
聯(lián)系電話
|
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 美能達(dá)色差計(jì),尼克斯測(cè)厚儀,三維掃描儀,byk光澤度儀,api激光干涉儀,涂鍍層測(cè)厚儀,防夾力測(cè)試儀 |
聯(lián)系電話
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2024-09-02 17:55:39瀏覽次數(shù)：2291
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 產(chǎn)品種類 | 接觸式輪廓儀/粗糙度儀 |
|---|---|---|---|
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
小型臺(tái)式輪廓儀Form Talysurf Intra（FTS）
Talysurf表格內(nèi)系統(tǒng)的功能和優(yōu)點(diǎn)：
•1mm垂直范圍/ 16nm分辨率提供了用于精密金屬成型和其他應(yīng)用的表格（輪廓）以及表面光潔度測(cè)量功能。 •50mm水平移動(dòng)，是大多數(shù)車間應(yīng)用的理想選擇。該裝置兼具準(zhǔn)確性和便攜性。 •0.40um / 50mm直線度誤差高精度的移動(dòng)原點(diǎn)，即使在大型零件上，也可以進(jìn)行波紋度，形狀和輪廓的無(wú)滑移測(cè)量。 •0.5um的水平數(shù)據(jù)間距比以往任何時(shí)候都可以更有效地測(cè)量小型組件和特征?？s短的啟動(dòng)和停機(jī)時(shí)間進(jìn)一步提高了可用性。 •手動(dòng)柱對(duì)于大型或高組件，可用的手動(dòng)柱提供穩(wěn)定的工作站以提高通量。 Form Talysurf Intra –用于表面光潔度和輪廓測(cè)量的感應(yīng)系統(tǒng)精密解決方案產(chǎn)品初的Form Talysurf于1984年推出，是有史以來(lái)第*臺(tái)同時(shí)測(cè)量紋理，形狀和輪廓的儀器?，F(xiàn)在，我們新開(kāi)發(fā)的Form Talysurf內(nèi)部測(cè)量系統(tǒng)鞏固了Taylor Hobson的，并創(chuàng)建了用于評(píng)估表面光潔度和形狀的新標(biāo)準(zhǔn)。 Intra系統(tǒng)具有一毫米的量程范圍，多種可互換的測(cè)針和已獲**的校準(zhǔn)程序，是幾乎所有高精度應(yīng)用的理想選擇。 Ultra Software-全面的表面光潔度分析Form Talysurf Intra Sytem包括對(duì)表面光潔度測(cè)量非常重要的所有內(nèi)容。包括基本的粗糙度和波紋度參數(shù)，以及形狀誤差分析，功能排除，縮放工具和針對(duì)車間應(yīng)用的*可編程性。 •表格分析*測(cè)量和評(píng)估半徑，角度（坡度）和尺寸•簡(jiǎn)單的用戶界面*與系統(tǒng)可編程性相結(jié)合，可提供真正的車間解決方案；提供定制設(shè)計(jì)。 •Dual Profile Analysis *（雙重輪廓分析*）允許比較磨損，公差等測(cè)量結(jié)果。•Ultra Contour Analysis用于尺寸應(yīng)用的獨(dú)立軟件實(shí)用程序，可以直接比較設(shè)計(jì)數(shù)據(jù)和測(cè)量結(jié)果，并獲得誤差結(jié)果。特殊硬件也可用于廣泛的應(yīng)用。 •用于地形應(yīng)用程序的Talymap 3D Analysis獨(dú)立軟件實(shí)用程序；還需要特殊的硬件。 *超軟件許可選項(xiàng)Taylor Hobson提供了一筆出色的投資•通過(guò)靈活的模塊化系統(tǒng)配置節(jié)省資金•通過(guò)我們已獲**的校準(zhǔn)例程提高準(zhǔn)確性•通過(guò)多任務(wù)測(cè)量系統(tǒng)節(jié)省時(shí)間•通過(guò)自動(dòng)，無(wú)人值守的操作提高生產(chǎn)率•通過(guò)編程避免錯(cuò)誤測(cè)量程序，
 |  |
篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀；
==>>美國(guó)GE無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無(wú)損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬(wàn)能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
